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J-GLOBAL ID：201802259483111135   整理番号：18A0012314

ネプコンジャパン2018にみる自動外観検査装置とビジョンシステム 高速・高分解能・低被曝を実現するインライン自動X線検査装置

著者 (1件)： 大西貴子 (オムロン)
資料名： 画像ラボ  (Image Laboratory)
巻： 29  号： 1  ページ： 67-72  発行年： 2018年01月10日 
JST資料番号： L2340A  ISSN： 0915-6755  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 基板実装業界における高密度化・微細化の流れを受け,インラインX線検査装置にはより高速で高分解能な撮像性能が求められている。さらに近年は低被曝への関心も高まりつつあり,これらの両立は全数検査による高品質保証を展開していくための課題である。本稿では,大幅な撮像高速化を実現した当社の最新X線自動検査装置VT-X750に関し,上記課題の解決に向けた主要技術を紹介する。(著者抄録)

シソーラス用語： *X線検査 ,  装置 ,  *撮像装置 ,  画像 ,  *製品検査 ,  高速化
準シソーラス用語： *X線検査装置 ,  高分解能画像

分類 (2件)： 撮像・録画装置  (ND12032E) ,  品質検査  (KB04020L)

タイトルに関連する用語 (6件)： 外観検査装置 ,  ビジョン ,  高分解能 ,  被曝 ,  インライン ,  X線検査装置