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J-GLOBAL ID:201802259605749411   整理番号:18A1776777

ソフトマターの計測・評価技術 X線によるソフトマター構造解析

著者 (1件):
資料名:
号:ページ: 16-18  発行年: 2018年07月05日 
JST資料番号: F2209A  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 解説  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
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・X線は粒子性と波動性の二重性を備える量子ビームであり,電子密度の空間秩序や規則性,変調に特に敏感で,この性質を利用し物質中の規則,不規則構造の情報が得られ,大きな内部自由度のため特異な物性を示すソフトマターは,~数100nmのメゾスコピック構造で,その構造の観察には小角散乱領域の測定が必要。小角X線散乱測定装置は,どれだけ小さな散乱角を観測できるか(小角分解能)が重要性能であり,更に電子密度ゆらぎによる散乱は信号強度が弱く,光学由来のバックグラウンド(寄生散乱)の抑制も必要。最新型は実験室系小角X線散乱測定装置(NANOPIX)。
・高分子材料の評価・解析事例:結晶性高分子の生分解性ポリマ(P3HB)の内部構造(小角散乱像で原子/分子のパッキングと配向状態,広角散乱像で高次構造(ラメラ)の知見),ゴム中に分散されたフィラーの凝集構造(極小角散乱により加硫後の階層構造を観察),非破壊測定で内部構造情報を取得。
・研究現場での測定・解析の課題と今後の展開:高機能材料の開発には小角散乱だけでなく,広角散乱,イメージングを駆使した複合的構造解析システムが必要。
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分類 (5件):
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X線回折法  ,  ポリエステル,アルキド  ,  高分子の結晶構造  ,  強化プラスチックの成形  ,  充填剤,補強材 
引用文献 (7件):
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タイトルに関連する用語 (5件):
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