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J-GLOBAL ID：201802259747338285   整理番号：18A1028500

NewRCにおけるCIGS薄膜研究開発の最近の進歩【JST・京大機械翻訳】

Recent progress of CIGS thin film R&D at NEWRC

著者 (6件)： Al-Thani Hamda A. (National Energy and Water Research Center (NEWRC), Abu Dhabi, P.O. Box 54111, UAE) ,  Al-Shaibani Sahar A. (National Energy and Water Research Center (NEWRC), Abu Dhabi, P.O. Box 54111, UAE) ,  Al-Jaeedi Ahlam M. (National Energy and Water Research Center (NEWRC), Abu Dhabi, P.O. Box 54111, UAE) ,  Al-Baity Shifaa M. (National Energy and Water Research Center (NEWRC), Abu Dhabi, P.O. Box 54111, UAE) ,  Al-Yafeai Abeer A. (National Energy and Water Research Center (NEWRC), Abu Dhabi, P.O. Box 54111, UAE) ,  Hasoon Falah S. (National Energy and Water Research Center (NEWRC), Abu Dhabi, P.O. Box 54111, UAE)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017  号： PVSC  ページ： 1-4  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 物理蒸着(PVD)3段階プロセスを用いて,2系列のCIGS薄膜をモリブデン被覆ソーダ石灰ガラス(SLG/Mo)基板上に堆積した。3段階堆積過程を,基板が線形運動にあるCIGS膜の最初のシリーズの堆積の間に行った。一方,CIGS膜の第二シリーズでは,基板は堆積中に定常に保持された。CIGS膜の構造をθ/2θX線回折(XRD)特性化技術により調べた。一方,膜の化学組成を,波長分散分光計(WDS)と結合した電子プローブマイクロアナライザ(EPMA)により調べた。Auger電子分光計(AES)を,CIGSとMo膜の全厚さを通して化学組成を深さプロファイルに適用した。原子間力顕微鏡(AFM)を用いて,トポグラフィーを調べ,CIGS膜の平均二乗平均(RMS)表面粗さを決定した。装置の製作を完了し,その性能を米国の国家再生エネルギー研究所(NREL)で1000W/m2と25°Cの標準条件下で評価した。最終的に,研究開発研究の進歩は,この研究を通して,この論文では,Abu DhabiのNewRC施設で実施されているCIGS薄膜ベース太陽電池に関するものである。Copyright 2018 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 原子間力顕微鏡 ,  X線回折 ,  キャラクタリゼーション ,  Auger分光法 ,  電子プローブ ,  化学組成 ,  線形性 ,  アメリカ合衆国 ,  *薄膜 ,  分光計 ,  太陽電池 ,  物理蒸着 ,  深さプロフィル
準シソーラス用語： 波長分散 ,  *セレン化ガリウムインジウム銅 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： 半導体薄膜  (BK14040E) ,  太陽電池  (NC03084O)

タイトルに関連する用語 (4件)： CIGS ,  薄膜 ,  研究 ,  開発