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J-GLOBAL ID：201802260186926575   整理番号：18A0385501

TwinEBIS装置:機械記述【Powered by NICT】

The TwinEBIS setup: Machine description

著者 (8件)： Breitenfeldt M. (CERN, Geneva 23 CH-1211, Switzerland) ,  Mertzig R. (CERN, Geneva 23 CH-1211, Switzerland) ,  Mertzig R. (Technische Universitaet Dresden, 01069 Dresden, Germany) ,  Pitters J. (CERN, Geneva 23 CH-1211, Switzerland) ,  Pitters J. (Technische Universitaet Wien, 1040 Vienna, Austria) ,  Shornikov A. (CERN, Geneva 23 CH-1211, Switzerland) ,  Shornikov A. (GANIL, Bd. Becquerel, BP 55027, 14076 Caen Cedex 05, France) ,  Wenander F. (CERN, Geneva 23 CH-1211, Switzerland)
資料名： Nuclear Instruments & Methods in Physics Research. Section A. Accelerators, Spectrometers, Detectors and Associated Equipment  (Nuclear Instruments & Methods in Physics Research. Section A. Accelerators, Spectrometers, Detectors and Associated Equipment)
巻： 856  ページ： 139-146  発行年： 2017年 
JST資料番号： D0208B  ISSN： 0168-9002  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： TwinEBISはCERNでの運用最近電子ビームイオン源(EBIS)である。デバイスはISOLDE施設で動作するREXEBIS電荷増殖と同様な構成である。Manne Siegbahn研究所(MSL)ストックホルムからソレノイドの再配置後,TwinEBISはCERNでの委託と低エネルギー多価イオンの操作に特化した試験台として有用であった。本論文では,装置の概要を与え,電子光学系の高度な数値シミュレーションを提示した。さらに,ソレノイド磁場のアラインメント手順を記述し,測定結果を示した。カソード研究,電子ビーム試験とイオン抽出変調からの結果は追跡論文に提示されている。Copyright 2018 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】

シソーラス用語： イオン ,  多価イオン ,  電子光学 ,  アラインメント ,  電子ビーム ,  電荷 ,  磁場 ,  *ソレノイド形コイル ,  イオン源 ,  カソード
準シソーラス用語： 数値シミュレーション ,  低エネルギー ,  再配列 ,  CERN , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (5件)： EBIST ,  EBIT ,  電荷増殖 ,  高荷電イオン ,  電子ビームシミュレーション

分類 (3件)： 素粒子・核物理実験技術一般  (BE01010F) ,  素粒子・核物理実験計測用エレクトロニクス  (BE01020Q) ,  放射線検出・検出器  (AD08020J)

タイトルに関連する用語 (1件)： 記述