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J-GLOBAL ID：201802260762663651   整理番号：18A1045084

電子コネクタのための高分子構造の故障評価【JST・京大機械翻訳】

Failure assessments of polymeric structure for electronic connectors

著者 (3件)： Huang D.-C. (Department of Bio-Industrial Mechatronics Engineering, National Taiwan University, Taiwan) ,  Juo Y.-T. (Department of Bio-Industrial Mechatronics Engineering, National Taiwan University, Taiwan) ,  Liao K.-C. (Department of Bio-Industrial Mechatronics Engineering, National Taiwan University, Taiwan)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2018  号： EuroSimE  ページ： 1-3  発行年： 2018年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 本研究では,電子製品に広く採用されている液晶ポリマ(LCP)の挙動を調べた。有限要素解析を,エンジニアリングポリマの機械的応答を記述する市販パッケージの自己コード化ユーザサブルーチンと組み合わせて実行した。構成モデルに必要な種々のパラメータを,一軸圧縮荷重条件を受ける高分子試験片の実験的測定を用いて推定した。適用条件下でのメモリコネクタのプラスチックハウジングの破壊評価を行い,ブリッジ領域で出現する推定破壊は,対応する実験観察と合理的に一致した。Copyright 2018 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 高分子液晶 ,  *コネクタ ,  符号化 ,  構成モデル ,  *故障 ,  *高分子
準シソーラス用語： 荷重条件 ,  一軸圧縮 ,  機械的応答 ,  有限要素解析 ,  重合体構造 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： ネマチック相  (BK03020W) ,  ポリエステル,アルキド  (YH07070P)

タイトルに関連する用語 (5件)： 電子 ,  コネクタ ,  高分子構造 ,  故障 ,  評価