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J-GLOBAL ID：201802260909519056   整理番号：18A1790738

光熱曲げ分光法による欠陥評価のためのペロブスカイト薄膜の光吸収スペクトル

Optical absorption spectra of perovskite thin films for defect estimation by photothermal bending spectroscopy

著者 (5件)： HIROTA Yuta (Gifu Univ., Gifu, JPN) ,  KATO Hiroki (Gifu Univ., Gifu, JPN) ,  KAWAHARA Kouki (Gifu Univ., Gifu, JPN) ,  YOSHIDA Norimitsu (Gifu Univ., Gifu, JPN) ,  NONOMURA Shuichi (Gifu Univ., Gifu, JPN)
資料名： Japanese Journal of Applied Physics  (Japanese Journal of Applied Physics)
巻： 57  号： 8S3  ページ： 08RE07.1-08RE07.4  発行年： 2018年08月 
JST資料番号： G0520B  ISSN： 0021-4922  CODEN： JJAPB6  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

シソーラス用語： *光吸収スペクトル ,  *ペロブスカイト型結晶 ,  薄膜 ,  ヨウ化物 ,  鉛化合物 ,  スペクトロスコピー ,  *光熱偏向分光法 ,  Fourier分光法 ,  再結合
準シソーラス用語： 光電流分光法 ,  非放射再結合

分類 (2件)： 無機化合物の赤外スペクトル及びRaman散乱,Ramanスペクトル  (BM08063C) ,  半導体の格子欠陥  (BK12040Q)

引用文献 (31件)：

• A. Kojima, K. Teshima, Y. Shirai, and T. Miyasaka, J. Am. Chem. Soc. 131, 6050 (2009).
• Web [https://www.nrel.gov/pv/].
• M. A. Green, Y. Hishikawa, E. D. Dunlop, D. H. Levi, J. Hohl-Ebinger, and A. W. Y. Ho-Baillie, Prog. Photovoltaics 26, 3 (2018).
• W. S. Yang, J. H. Noh, N. J. Jeon, Y. C. Kim, S. Ryu, J. Seo, and S. I. Seok, Science 348, 1234 (2015).
• W.-J. Yin, T. Shi, and Y. Yan, Appl. Phys. Lett. 104, 063903 (2014).

タイトルに関連する用語 (7件)： 曲げ ,  分光法 ,  欠陥 ,  評価 ,  ペロブスカイト ,  薄膜 ,  光吸収スペクトル