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J-GLOBAL ID:201802261122254517   整理番号:18A0090797

リアルタイム線量計を用いたコンピュータ断層撮影スキャンにおける半価層を決定するための方法:二重線源,二重エネルギー収集への応用【Powered by NICT】

Method for determining the half-value layer in computed tomography scans using a real-time dosimeter: Application to dual-source dual-energy acquisition
著者 (5件):
資料名:
巻: 44  ページ: 227-231  発行年: 2017年 
JST資料番号: W3316A  ISSN: 1120-1797  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: オランダ (NLD)  言語: 英語 (EN)
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固定されるX線管を必要とせずに二重線源二重エネルギーコンピュータ断層撮影(DS DECT)スキャンにおける半価層(HVL)を決定する方法を提案した。特注導線と多機能ディジタイザモジュール(リアルタイム線量計)と結合したイオン化室を用いた。チャンバーは症例の中心に置かれた,アルミニウムまたは銅フィルタを開口の前に設置した。HVLは単一源単一エネルギーCT(SS SECT)スキャンにおける80年,120年,および150kVの管電圧のための開口幅1.0%,2.0%,3.0cmを用いて測定し,ピーク空気カーマ率(ピーク法)と統合された空気カーマ率(積分法)から計算された;得られた値は,同じ方法を使用して行われる従来非回転法の結果と比較した。HVLはピーク法を用いたDS DECTスキャンにおける70/Sn150kVと100/Sn150kVの管電圧の組合せのための1.0cmの開口幅を用いて測定した。SS SECTスキャンでは,1.0cm開口とピーク法の組み合わせは,従来の非回転法で得られた半価層値のわずかな差異に基づく適切であった。法もDS DECT走査に適用できることが分かった。著者らの提案した方法は,固定されるX線管を必要とせずに良好な精度レベルのSSSEとDS DECTスキャンにおける半価層を決定することができる。1.0cm開口とピーク法の組合せが適していた。Copyright 2018 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】
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分類 (4件):
分類
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放射線遮蔽  ,  放射線検出・検出器  ,  放射線を利用した診断  ,  ガラスの性質・分析・試験 

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