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J-GLOBAL ID：201802261191639277   整理番号：18A0441156

再構成可能スキャンネットワークの構造指向試験【Powered by NICT】

Structure-Oriented Test of Reconfigurable Scan Networks

著者 (3件)： Ull Dominik ,  Kochte Michael ,  Wunderlich Hans-Joachim
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017  号： ATS  ページ： 127-132  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 今日的システムに及ぼすチップの設計,製作とその動作を集積装置,これは簡単なセンサから複雑なデバッグ界面と設計(DfT)構造に依存している。IEEE標準において定義された再構成可能なスキャンネットワーク(RSN)1687 2014はそのような装置への効率的アクセス機構を提供する。,検査・診断,検証,較正や実行時間モニタリングに使用することができる前にアクセス機構を試験に必須である。RSNにおける現実的な故障機構は,それらの高い逐次深さと連続走査ポートを介して限定された可制御性と可観測性のために試験が困難である。影レジスタの可観測性を増強することをRSN用に特別に設計した新しい低コストDfT修飾を示した。さらに,フリップフロップ内部とブリッジ故障のような縮退とより現実的なゲートレベル故障モデルのための各種試験方法を提示した。実験結果を示しDfT修飾と試験方法の有効性を示した。Copyright 2018 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： *可観測性 ,  デバッギング ,  レジスタ ,  走査 ,  センサ ,  可制御性 ,  界面 ,  ポート ,  IEEE ,  双安定回路
準シソーラス用語： 試験方法 ,  故障モデル ,  故障メカニズム ,  実行時間 ,  *再構成可能性 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： システム設計・解析  (IA02030D)

タイトルに関連する用語 (3件)： 再構成可能 ,  スキャン ,  試験