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J-GLOBAL ID：201802261328712534   整理番号：18A0822658

基板誘電率の高速決定のための新しいマイクロストリップに基づく簡略化手法【JST・京大機械翻訳】

Novel Microstrip-Based Simplified Approach for Fast Determination of Substrate Permittivity

著者 (3件)： Tiwari Nilesh Kumar (IIT Kanpur, Kanpur, India) ,  Singh Surya Prakash (IIT Kanpur, Kanpur, India) ,  Akhtar M. Jaleel (IIT Kanpur, Kanpur, India)
資料名： IEEE Transactions on Components, Packaging, and Manufacturing Technology  (IEEE Transactions on Components, Packaging, and Manufacturing Technology)
巻： 8  号： 4  ページ： 660-669  発行年： 2018年 
JST資料番号： W0590B  ISSN： 2156-3950  CODEN： ITCPC8  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 誘電体基板材料の広帯域無線周波数特性評価のための簡単で高速なマイクロストリップ伝送線路法を示した。提案した方法は,特定の離散周波数点におけるマイクロストリップ線路のSパラメータの大きさのみを利用する。このようにして,この技術は,従来の広帯域マイクロ波特性化技術における主要な関心事である位相不確実性問題を含まない。さらに,提案した方法は,試験試料上に設計される50Ωマイクロストリップ線路を必要とせず,したがって,以前に提案された平面法と異なり,近似基板誘電率の事前知識は必要としない。本論文で示したスキームは,測定した反射係数から基板誘電率の実数部を決定するための新しい閉形式関係の導出に基づいている。基板材料の損失正接を,設計したマイクロストリップ線路の透過係数に基づく数値モデルから得た。提案した方法を,三次元電磁ソルバCST Microwave Studioを用いて数値的に検証した。実験的検証のために,任意インピーダンスのマイクロストリップ構造を試験基板上に作製し,その複素誘電率をネットワークアナライザで測定したSパラメータに関して提案した方式を用いて検索した。シミュレーションと実験データの両方を用いた標準試料の抽出誘電率は文献で利用可能な参照値と良く一致した。Copyright 2018 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： ネットワークアナライザ ,  複素誘電率 ,  透過率 ,  広帯域 ,  *マイクロストリップ線路 ,  位相 ,  インピーダンス ,  不確実性 ,  反射率 ,  *誘電率 ,  *高速度 ,  周波数 ,  三次元 ,  キャラクタリゼーション
準シソーラス用語： Sパラメータ , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： プリント回路  (NA05040O) ,  伝送回路理論  (NA02020X)

タイトルに関連する用語 (4件)： 誘電率 ,  マイクロストリップ ,  簡略化 ,  手法