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J-GLOBAL ID：201802261526580490   整理番号：18A0235833

斜め電離層探査に及ぼすO/X偏光モードの分離【Powered by NICT】

Separation of O/X Polarization Modes on Oblique Ionospheric Soundings

著者 (6件)： Harris T. J. (Defence Science and Technology Group, Edinburgh, South Australia, Australia) ,  Harris T. J. (School of Physical Sciences, University of Adelaide, Adelaide, Australia) ,  Cervera M. A. (Defence Science and Technology Group, Edinburgh, South Australia, Australia) ,  Cervera M. A. (School of Physical Sciences, University of Adelaide, Adelaide, Australia) ,  Pederick L. H. (Defence Science and Technology Group, Edinburgh, South Australia, Australia) ,  Quinn A. D. (Defence Science and Technology Group, Edinburgh, South Australia, Australia)
資料名： Radio Science  (Radio Science)
巻： 52  号： 12  ページ： 1522-1533  発行年： 2017年 
JST資料番号： C0674B  ISSN： 0048-6604  CODEN： RASCAD  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 斜め入射サウンダ(OIS)は,電離層の状態を決定し,垂直入射サウンダ(VIS)に比べていくつかの利点を十分に確立された手段である。しかし,OISイオノグラムの処理と解釈はVISイオノグラムのそれよりもより複雑であった。地球磁場のために,電離層である無線周波数での複屈折とVISまたはOISは二つの異なる電離層収益,O及びXモードとして知られているを典型的にするであろう。偏波受信アンテナを用いて,VIS上のこれら二モードの分離は,確立された技術である。しかし,この過程は二つのモード間の位相差の変数分離によるOISに複雑であり,偏波アンテナの二アーム間で測定した。回転と傾けることができる偏波アンテナを用いて,イオノグラム内の相分離におけるこの変化は入射角の変化により生じた相分離における大きな変動に導くいくつかの構成であることを示した。は相分離の変化を説明できることを斜めイオノグラムにおけるO及びXモードを分離するためのアルゴリズムを開発し,比較的困難な場合でも成功した分離を示した。相分離の変化も入射上昇,HF無線の他の応用に有用と思われる技術を推定するために利用することができる。Copyright 2018 Wiley Publishing Japan K.K. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】

シソーラス用語： アルゴリズム ,  相分離 ,  イオノグラム ,  複屈折 ,  受信アンテナ ,  偏波 ,  *偏光 ,  アンテナ ,  入射角 ,  *電離層 ,  リモートセンシング
準シソーラス用語： 位相差 ,  無線周波数 ,  垂直入射 ,  斜め入射 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (6件)： イオノゾンデ ,  電離層 ,  観測 ,  計装 ,  リモートセンシング ,  polarimetry

分類 (2件)： 電離層伝搬  (ND05020B) ,  電離層・熱圏  (DC04050O)

タイトルに関連する用語 (3件)： 電離層 ,  探査 ,  偏光