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J-GLOBAL ID：201802261712592875   整理番号：18A0756871

X線回転傾斜法の新しい応用【JST・京大機械翻訳】

New applications of the X-ray rotation tilt technique

著者 (3件)： Heckert Mirko (Institut fuer Werkstoffwissenschaft, Technische Universitaet Dresden, Germany) ,  Enghardt Stefan (Institut fuer Werkstoffwissenschaft, Technische Universitaet Dresden, Germany) ,  Bauch Juergen (Institut fuer Werkstoffwissenschaft, Technische Universitaet Dresden, Germany)
資料名： Journal of Applied Crystallography  (Journal of Applied Crystallography)
巻： 51  号： 2  ページ： 406-410  発行年： 2018年 
JST資料番号： D0631A  ISSN： 0021-8898  CODEN： JACGAR  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 新しい評価法を用いたX線回転傾斜(XRRT)法により,圧電材料ランガサイト(LGS)とタンタル酸カルシウムガリウム(CTGS)を調べた。XRRT技術は回折線が二次元検出器上に記録されるマイクロ回折法である。これらの線はKossel線に類似した円錐切片を用いて記述できる。それらの形態と位置は,研究した結晶の格子定数と配向に依存する。従って,これらのパラメータを得るために用いることができる。この新しい評価法は,パターン中心と検出器対サンプル距離の知識なしで,XRRTとKossel反射の自動インデクシングを可能にした。これにより,LGSとCTGSのようなより複雑な結晶構造の研究が可能になり,そこでは格子定数と配向が試料上の種々の点で測定された。Copyright 2018 Wiley Publishing Japan K.K. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 圧電材料 ,  二次元 ,  格子定数 ,  回折 ,  *傾斜法 ,  検出器 ,  円錐 ,  *X線 ,  結晶構造
準シソーラス用語： Kossel図形 ,  ランガサイト ,  評価法 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (3件)： マイクロ回折 ,  X線回転傾斜法 ,  格子定数決定

分類 (1件)： X線回折法  (BK01020I)

タイトルに関連する用語 (3件)： X線 ,  傾斜法 ,  応用