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J-GLOBAL ID：201802262198838771   整理番号：18A0800712

環境汚染物質検出のための表面支援レーザ脱離/イオン化質量分析のための基質としての多孔質TiCセラミック粉末の応用【JST・京大機械翻訳】

Application of porous TiC ceramic powder as a substrate for the surface-assisted laser desorption/ionization mass spectrometry to detection of environmental pollutants

著者 (9件)： Moriwaki Hiroshi (Shinshu University, Faculty of Textile Science and Technology, Division of Applied Biology, 3-15-1, Tokida, Ueda 386-8567, Japan) ,  Moriwaki Hiroshi (Shinshu University, Division of Instrumental Analysis (Ueda branch), Research Center for Supports to Advanced Science, 3-15-1, Tokida, Ueda 386-8567, Japan) ,  Otsuka Takumi (Shinshu University, Faculty of Textile Science and Technology, Division of Applied Biology, 3-15-1, Tokida, Ueda 386-8567, Japan) ,  Kawabe Yukari (Shinshu University, Faculty of Textile Science and Technology, Division of Applied Biology, 3-15-1, Tokida, Ueda 386-8567, Japan) ,  Osaka Issey (Center for Nano Materials and Technology, Japan Advanced Institute of Science and Technology, 1-1 Asahidai, Nomi, Ishikawa 923-1292, Japan) ,  Miyazato Akio (Center for Nano Materials and Technology, Japan Advanced Institute of Science and Technology, 1-1 Asahidai, Nomi, Ishikawa 923-1292, Japan) ,  Maruo Junpei (OSU Co., Ltd., 3-1-1, Nakagaito, Daito 574-8530, Japan) ,  Yamada Osamu (OSU Co., Ltd., 3-1-1, Nakagaito, Daito 574-8530, Japan) ,  Yamada Osamu (Osaka Sangyo University, Research & Development Center for New Industry, 3-1-1, Nakagaito, Daito 574-8530, Japan)
資料名： International Journal of Mass Spectrometry  (International Journal of Mass Spectrometry)
巻： 428  ページ： 49-54  発行年： 2018年 
JST資料番号： D0625A  ISSN： 1387-3806  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 多孔質TiCセラミック粉末を種々の環境汚染物質の表面支援レーザ脱離/イオン化質量分析(SALDI-MS)分析のための新しい基質として用いた。多孔質TiCセラミック粉末は,355nmのNd:YAGレーザバンドにおいて,高い表面積,電気伝導率,および光吸収を有するナノ構造形態を有していた。多孔質TiCセラミックのこれらの特性は,SALDI-MSの基板として良好な適合性を有することを示唆した。さらに,多孔質TiCセラミック粉末は環境汚染物質の吸着剤として使用できる。多孔質TiCセラミック粉末をペルフルオロオクタンスルホン酸塩(PFOS)水溶液に添加した。液体を2時間振とうし,PFOSをTiCセラミック上に吸着した。液体を濾過し,残留物を乾燥した。得られた粉末を炭素テープ上に固定し,負イオンモードでSALDI-MSにより測定した。結果として,PFOS(C_8F_17SO_3-)に対するピークが検出され,m/z100-500における他の有意なピークは観察されなかった。他の分析物に関しては,陰イオンまたは正イオンモードにおけるこれらの化合物から誘導されたアニオンまたはカチオンに対応するイオンピークが,同じ処理を用いて観察された。Copyright 2018 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： *粉体 ,  光吸収 ,  カチオン ,  *基質 ,  *イオン化 ,  ナノ構造 ,  *セラミック ,  *多孔性 ,  電気伝導率 ,  *脱着 ,  *レーザ ,  *質量分析 ,  アニオン ,  SALDI-MS ,  *環境汚染物質

著者キーワード (5件)： SALDI-MS ,  多孔質TiCセラミック ,  ペルフルオロオクタンスルホン酸塩(PFOS) ,  ペンタクロロフェノール ,  環境汚染物質

分類 (1件)： 質量分析  (CC03013N)

タイトルに関連する用語 (11件)： 環境汚染物質 ,  支援 ,  レーザ ,  脱離 ,  イオン化 ,  質量分析 ,  基質 ,  多孔質 ,  TiC ,  セラミック粉末 ,  応用