Agarwal Shilpi について
Instrument Design Development Centre, Indian Institute of Technology Delhi, Hauz Khas, New Delhi, 110016, India について
Shakher Chandra について
Instrument Design Development Centre, Indian Institute of Technology Delhi, Hauz Khas, New Delhi, 110016, India について
Optik について
アラインメント について
火炎長さ について
屈折率 について
干渉縞 について
酸素 について
均一磁場 について
摂動 について
磁化率 について
流れ特性 について
位相 について
火炎温度 について
温度分布 について
磁場 について
数値研究 について
Talbot干渉計 について
円形格子Talbot干渉計 について
マイクロ火炎 について
Hilbert変換 について
屈折率 について
温度 について
上方減少と磁場増加 について
光の散乱,回折,干渉 について
光の像形成 について
光デバイス一般 について
干渉測定と干渉計 について
Talbot干渉計 について
火炎 について
温度プロファイル について
流特性 について
磁場 について