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J-GLOBAL ID：201802263376836658   整理番号：18A0942205

ZynQ SoCに基づく読出しモジュールの設計とデータスループット性能【JST・京大機械翻訳】

The Design and Data-Throughput Performance of Readout Module Based on ZYNQ SoC

著者 (6件)： Xue Tao (Department of Engineering Physics, Key Laboratory of Particle and Radiation Imaging, Tsinghua University, Beijing, China) ,  Zhu Jinfu (Department of Engineering Physics, Key Laboratory of Particle and Radiation Imaging, Tsinghua University, Beijing, China) ,  Gong Guanghua (Department of Engineering Physics, Key Laboratory of Particle and Radiation Imaging, Tsinghua University, Beijing, China) ,  Wei Liangjun (Department of Engineering Physics, Key Laboratory of Particle and Radiation Imaging, Tsinghua University, Beijing, China) ,  Luo Yang (Department of Engineering Physics, Key Laboratory of Particle and Radiation Imaging, Tsinghua University, Beijing, China) ,  Li Jianmin (Department of Engineering Physics, Key Laboratory of Particle and Radiation Imaging, Tsinghua University, Beijing, China)
資料名： IEEE Transactions on Nuclear Science  (IEEE Transactions on Nuclear Science)
巻： 65  号： 5  ページ： 1169-1179  発行年： 2018年 
JST資料番号： C0235A  ISSN： 0018-9499  CODEN： IETNAE  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： Zynqは,核エレクトロニクスの分野におけるデータ収集と読出しシステムの応用において,フィールドプログラマブルゲートアレイとデュアル高性能先進RISCマシンCortex-A9プロセッサを用いて,徐々に柔軟で適切なアーキテクチャになっている。プログラマブル論理(PL)と処理システム(PS)の間の高いデータ速度と高効率データスループット性能は,Zynqに基づく読出しモジュールにおいて不可欠である。本論文では,4つの典型的読出しエレクトロニクスシステムアーキテクチャを紹介し,ZynqXC7Z020-CLG400に基づく新世代コンパクト読取モジュールRAIN1000Z2のハードウェアとソフトウェア設計の詳細を説明した。次に,PLとPSの間のデータスループット性能試験を設計して実行した。最高性能読出しモードは,異なる高性能ポート組合せモードにおいて2000MB/sデータスループット以上に達することができた。結論として,ZYNQベースの読み出しモジュールに基づく読出しアプリケーションにおける異なるデータスループットアプリケーションの要求に対して,組合せモードの推薦を与えた。Copyright 2018 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： ポート ,  性能試験 ,  データ収集 ,  ソフトウェア設計 ,  計算機アーキテクチャ ,  ハードウェア ,  電子技術 ,  演算プロセッサ ,  応用プログラム ,  *FPGA ,  処理装置 ,  RISCマシン
準シソーラス用語： 高効率 ,  データレート ,  *システムオンチップ , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 素粒子・核物理実験計測用エレクトロニクス  (BE01020Q)

タイトルに関連する用語 (5件)： SOC ,  読出し ,  モジュール ,  設計 ,  スループット