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J-GLOBAL ID:201802263443041870   整理番号:18A0729957

残留応力の計測による評価と検査 X線応力測定における応力定数の測定

著者 (1件):
資料名:
巻: 23  号:ページ: 68-70  発行年: 2018年05月01日 
JST資料番号: L3524A  ISSN: 1342-9825  CODEN: KGEIAS  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 解説  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
抄録/ポイント:
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・X線の回折現象を利用したX線応力測定は,結晶材料表面の局所の応力を非破壊的に測定でき,主な用途は残留応力測定。
・X線応力測定で良く用いられるのがsin2Ψ法であり,応力値はsin2Ψ線図の直線の勾配に応力定数Kを掛けることにより求まり,応力定数Kは,材料の弾性定数や無歪状態の回折角を使って計算。
・ステンレス鋼や耐熱合金等の応力定数を実験的に求めた事例では,試験片に4点曲げ負荷装置で単軸応力τを加えながら,回折線ピーク位置をX線で測定し,単軸応力τを梁の曲げ応力から求め,各負荷応力に対して,回折線ピーク位置をsin2Ψ線図にプロットし,これらの点に最小自乗法を当て嵌め,直線の勾配Mを決定。
・材料の応力定数については結晶粒の大きさや配向性によって変わることが知られているため,より正確に残留応力を評価したい場合,応力定数を実測することも有効。
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分類 (1件):
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JSTが定めた文献の分類名称とコードです
放射線応用計測 

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