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J-GLOBAL ID：201802263808124885   整理番号：18A0968644

低エネルギー陽電子消滅により観察されたマイクロポーラスシリカ薄膜上の水蒸気吸着中のサブナノポア充填【JST・京大機械翻訳】

Subnanopore filling during water vapor adsorption on microporous silica thin films as seen by low-energy positron annihilation

著者 (5件)： Ito Kenji (National Metrology Institute of Japan (NMIJ), National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (AIST), Tsukuba, Ibaraki 305-8565, Japan) ,  Yoshimoto Shigeru (National Metrology Institute of Japan (NMIJ), National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (AIST), Tsukuba, Ibaraki 305-8565, Japan) ,  O’Rourke Brian E. (National Metrology Institute of Japan (NMIJ), National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (AIST), Tsukuba, Ibaraki 305-8565, Japan) ,  Oshima Nagayasu (National Metrology Institute of Japan (NMIJ), National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (AIST), Tsukuba, Ibaraki 305-8565, Japan) ,  Kumagai Kazuhiro (National Metrology Institute of Japan (NMIJ), National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (AIST), Tsukuba, Ibaraki 305-8565, Japan)
資料名： Applied Physics Letters  (Applied Physics Letters)
巻： 112  号： 8  ページ： 083701-083701-5  発行年： 2018年 
JST資料番号： H0613A  ISSN： 0003-6951  CODEN： APPLAB  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 空気中に抽出された低エネルギー陽電子マイクロビームを用いた陽電子消滅寿命分光法(PALS)を適用して,制御された湿度条件下での酸化けい素-バックホウ素ミクロ多孔質薄膜中に形成された分子レベルの細孔構造を解明した。結果として,水分子で満たされた微小孔における格子間空間の直接観察が達成された。水蒸気吸着と組み合わせて空気中に抽出されたマイクロビームを用いたPALSは,実用的条件下で機能性の薄い材料の開かれたサブナノスケール細孔の両方のin situ解明のための強力なツールであることを実証した。(翻訳著者抄録)【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 湿度 ,  *陽電子消滅 ,  細孔構造 ,  水分子 ,  *薄膜 ,  細孔 ,  多孔性 ,  酸化ケイ素
準シソーラス用語： 機能性 ,  マイクロビーム ,  陽電子消滅分光法 ,  陽電子マイクロビーム ,  *水吸着 ,  *低エネルギー , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (5件)： 結晶成長技術・装置  (BK13020B) ,  電子ビーム,イオンビーム  (BD02030F) ,  陽電子消滅  (BK16052L) ,  金属中の拡散  (BL06022C) ,  線量計測・計測器  (AD08050Q)

タイトルに関連する用語 (8件)： 低エネルギー ,  陽電子消滅 ,  観察 ,  ポーラスシリカ ,  薄膜 ,  水蒸気吸着 ,  サブ ,  ナノポア