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J-GLOBAL ID：201802264661428558   整理番号：18A1905057

任意の異方性度に対するフラットプローブ診断の改良【JST・京大機械翻訳】

Improvement in the Flat Probe Diagnostics for Arbitrary Degree of Anisotropy

著者 (4件)： Soukhomlinov V. (St. Petersburg State University, Russia) ,  Mustafaev A. (St.Petersburg Mining University, Russia) ,  Strahova A. (St.Petersburg Mining University, Russia) ,  Kaganovich Igor D (Princeton Plasma Physics Laboratory, USA)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017  号： ICOPS  ページ： 1  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 異方性イオンまたは電子速度分布関数(IVDFまたはEVDF)の測定のための平坦プローブの動作を調べた。非常に狭いVDFの制限ケースに対して特別な注意を払った。フラットプローブデータの解析のための新しいアルゴリズムを開発した。低圧,低電圧ビーム放電におけるEVDFの方法を検証した。以前の伝統的方法からの大きな逸脱を実証した。EVDFの実験的測定を1,2で行い,モンテカルロシミュレーションと比較した。2つの間の良好な一致が観察された。Copyright 2018 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： *異方性 ,  放電 ,  CASE ,  低圧 ,  アルゴリズム ,  *プローブ
準シソーラス用語： モンテカルロシミュレーション ,  低電圧 ,  速度分布関数 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (3件)： 図形・画像処理一般  (JE04010I) ,  医用画像処理  (JE04020T) ,  NMR一般  (BM07041R)

タイトルに関連する用語 (4件)： 異方性 ,  フラット ,  プローブ ,  診断