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J-GLOBAL ID：201802264845221128   整理番号：18A0283749

電子Besselビームを用いたスピン偏極【Powered by NICT】

Spin polarisation with electron Bessel beams

著者 (5件)： Schattschneider P. (Institut fuer Festkorperphysik, Technische Universitaet Wien, A-1040 Wien, Austria) ,  Schattschneider P. (USTEM, Technische Universitaet Wien, A-1040 Wien, Austria) ,  Grillo V. (CNR-Istituto Nanoscienze, Centro S3, Via G Campi 213/a, I-41125 Modena, Italy) ,  Grillo V. (CNR-IMEM, Parco delle Scienze 37a, I-43100 Parma, Italy) ,  Aubry D. (Centrale Supelec, MSSMast CNRS 8579, F-92295 Chatenay-Malabry, France)
資料名： Ultramicroscopy  (Ultramicroscopy)
巻： 176  ページ： 188-193  発行年： 2017年 
JST資料番号： W0972A  ISSN： 0304-3991  CODEN： ULTRD  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： スピン偏光子として電子顕微鏡を使用する理論的可能性を調べた。事後選択軸上とき,標準磁気対物レンズを通過するBesselビームは本質的にスピン分極したことが判明した。無限に小さい検出器の限界では,スピン偏極は100%に傾向がある。検出器サイズを増加させると,分極は急速に減少し,中電圧顕微鏡の標準設定のための10~ 4以下で低下した。超低電圧に対しては,性能指数は二桁の大きさで増加し,既存のMott検出器のものに近づいた。著者らの知見は,スピンフィルタの新しい設計,電子顕微鏡との固有の組み合わせの観点から魅力的なオプション,特に低電圧でにつながる可能性がある。Copyright 2018 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】

シソーラス用語： 対物レンズ ,  磁気 ,  検出器 ,  顕微鏡 ,  分極 ,  性能指数 ,  偏光子 ,  高速度 ,  電子顕微鏡 ,  *スピン分極
準シソーラス用語： スピンフィルタ ,  低電圧 ,  中電圧 ,  *Besselビーム , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (2件)： スピン-軌道結合 ,  コヒーレンス

分類 (4件)： 電子ビーム,イオンビーム  (BD02030F) ,  磁性体測定技術・装置  (BM06030I) ,  金属結晶の磁性  (BM06040T) ,  電子顕微鏡,イオン顕微鏡  (BD02050B)

タイトルに関連する用語 (3件)： 電子 ,  Besselビーム ,  スピン偏極