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J-GLOBAL ID：201802264924886878   整理番号：18A0999610

電子用の2×2プログラマブル位相板の実証【JST・京大機械翻訳】

Demonstration of a 2 × 2 programmable phase plate for electrons

著者 (6件)： Verbeeck Jo (EMAT, University of Antwerp, Groenenborgerlaan 171, Antwerp 2020, Belgium) ,  Beche Armand (EMAT, University of Antwerp, Groenenborgerlaan 171, Antwerp 2020, Belgium) ,  Mueller-Caspary Knut (EMAT, University of Antwerp, Groenenborgerlaan 171, Antwerp 2020, Belgium) ,  Guzzinati Giulio (EMAT, University of Antwerp, Groenenborgerlaan 171, Antwerp 2020, Belgium) ,  Luong Minh Anh (Univ. Grenoble Alpes, CEA, INAC, MEM, LEMMA Group, Grenoble F-38000, France) ,  Den Hertog Martien (Institut Neel, 25 avenue des Martyrs BP 166, Grenoble Cedex 9 38042, France)
資料名： Ultramicroscopy  (Ultramicroscopy)
巻： 190  ページ： 58-65  発行年： 2018年 
JST資料番号： W0972A  ISSN： 0304-3991  CODEN： ULTRD  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 電子に対する2×2プログラマブル位相板の実験的実現に関する最初の結果を示した。この設計は,4個の別々に制御可能な開口孔を通過する電子波の位相に影響する静電素子のアレイからなる。この機能性は300kVで動作する通常の透過型電子顕微鏡で実証され,結果は理論的予測と非常に良く一致した。異なる位相対称性を持つ一組の電子プローブの動的生成を実証し,それにより,TEMにおける適応光学が現実に近いステップになることを示した。現在の設計の限界と将来のこれらを克服する方法について議論した。シミュレーションは,現在の証明概念のさらなる進化したバージョンが,ビーム成形と収差補正のための新しい励起応用の見通しを開くかもしれないことを示した。Copyright 2018 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： *位相 ,  対称性 ,  透過型電子顕微鏡 ,  予測 ,  *位相板 ,  収差補正 ,  励起 ,  電子波 ,  適応光学 ,  ビーム成形 ,  電子プローブ
準シソーラス用語： 機能性 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (5件)： 電子光学 ,  位相板 ,  ビーム成形 ,  静電レンズ ,  適応光学

分類 (3件)： 光変調器  (BD06020W) ,  電子顕微鏡,イオン顕微鏡  (BD02050B) ,  電子ビーム,イオンビーム  (BD02030F)

タイトルに関連する用語 (3件)： 電子 ,  位相板 ,  実証