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J-GLOBAL ID：201802265392068803   整理番号：18A0365626

MBE Growth of Ultrathin III-V Nanowires on a Highly Mismatched SiC/Si(111) Substrate

著者 (16件)： REZNIK R. R. (St. Petersburg Academic Univ., Russian Acad. of Sci., St. Petersburg, RUS) ,  REZNIK R. R. (ITMO Univ., St. Petersburg, RUS) ,  REZNIK R. R. (Inst. for Analytical Instrumentation, Russian Acad. of Sci., St. Petersburg, RUS) ,  REZNIK R. R. (Peter the Great St. Petersburg Polytechnic Univ., St. Petersburg, RUS) ,  KOTLYAR K. P. (St. Petersburg Academic Univ., Russian Acad. of Sci., St. Petersburg, RUS) ,  SHTROM I. V. (St. Petersburg Academic Univ., Russian Acad. of Sci., St. Petersburg, RUS) ,  SHTROM I. V. (Inst. for Analytical Instrumentation, Russian Acad. of Sci., St. Petersburg, RUS) ,  SHTROM I. V. (Ioffe Inst., St. Petersburg, RUS) ,  SOSHNIKOV I. P. (St. Petersburg Academic Univ., Russian Acad. of Sci., St. Petersburg, RUS) ,  SOSHNIKOV I. P. (Inst. for Analytical Instrumentation, Russian Acad. of Sci., St. Petersburg, RUS) ,  SOSHNIKOV I. P. (Ioffe Inst., St. Petersburg, RUS) ,  KUKUSHKIN S. A. (Inst. of Problems of Mechanical Engineering, Russian Acad. of Sci., St. Petersburg, RUS) ,  OSIPOV A. V. (Inst. of Problems of Mechanical Engineering, Russian Acad. of Sci., St. Petersburg, RUS) ,  CIRLIN G. E. (St. Petersburg Academic Univ., Russian Acad. of Sci., St. Petersburg, RUS) ,  CIRLIN G. E. (ITMO Univ., St. Petersburg, RUS) ,  CIRLIN G. E. (Inst. for Analytical Instrumentation, Russian Acad. of Sci., St. Petersburg, RUS)
資料名： Semiconductors  (Semiconductors)
巻： 51  号： 11  ページ： 1472-1476  発行年： 2017年11月 
JST資料番号： T0093A  ISSN： 1063-7826  CODEN： SMICES  資料種別： 逐次刊行物 (A)
発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

タイトルに関連する用語 (3件)： MBE ,  SiC ,  Si