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J-GLOBAL ID：201802265639945272   整理番号：18A0586519

偽造とリサイクルに対するFPGAのロバストで効率的なEMベース認証に向けて【Powered by NICT】

Towards a robust and efficient EM based authentication of FPGA against counterfeiting and recycling

著者 (7件)： Ahmed Mosabbah Mushir (Univ. Grenoble Alpes, LCIS, Valence, France, §Institut Universitaire de France, Paris, France) ,  Hely David (Univ. Grenoble Alpes, LCIS, Valence, France, §Institut Universitaire de France, Paris, France) ,  Barbot Nicolas (Univ. Grenoble Alpes, LCIS, Valence, France, §Institut Universitaire de France, Paris, France) ,  Siragusa Romain (Univ. Grenoble Alpes, LCIS, Valence, France, §Institut Universitaire de France, Paris, France) ,  Perret Etienne (Univ. Grenoble Alpes, LCIS, Valence, France, §Institut Universitaire de France, Paris, France) ,  Bernier Maxime (University of Savoie Mont Blanc, IMEP-LAHC, Chambery, France) ,  Garet Fredric (University of Savoie Mont Blanc, IMEP-LAHC, Chambery, France)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017  号： CADS  ページ： 1-6  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 集積回路(IC)の偽造は,半導体産業にとって重大な関心事になってきた。ICの偽造を検出し避けるための実装の観点で効率的で低コストでロバストな解を見出すことが必要である。,溶液は加齢および他の信頼性効果に対する耐性が必要である。本論文では,フィンガープリントを作成するためにICから放射される電磁(EM)放射を利用する方式を提案した。著者らの提案した方式は,製造に基づくプロセス変動(PV),ナノスケール技術において支配し続けているを利用した。放射EM放射を生成し,PV効果の現実的な評価を行う変動を考慮した回路(VAC)設計を展開した。生成されたEM応答はICのためのフィンガープリントとして量子化異なる符号化メトリックスに処理した。論文の後編は,指紋であるICのエージング効果後に安定であることを検証した。提案方式を検証するために測定はいくつかのFPGAボード上で行った。Copyright 2018 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： 量子化 ,  *FPGA ,  *認証 ,  符号化 ,  集積回路 ,  半導体工業 ,  *ロバスト性 ,  信頼性 ,  指紋
準シソーラス用語： メトリックス ,  ナノスケール ,  プロセス変動 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： 計算機システム開発  (JD02010R) ,  パターン認識  (JE07000S)

タイトルに関連する用語 (6件)： 偽造 ,  リサイクル ,  FPGA ,  ロバスト ,  EM ,  認証