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J-GLOBAL ID:201802266379979915   整理番号:18A0108925

コンデンサ雑音多周波数掃引周波数法研究と実験検証【JST・京大機械翻訳】

Research and Test Verification on Multi-frequency Sweeping Method for Capacitor Noise
著者 (4件):
資料名:
巻: 38  号:ページ: 83-87  発行年: 2017年 
JST資料番号: C3446A  ISSN: 1674-1757  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: 中国 (CHN)  言語: 中国語 (ZH)
抄録/ポイント:
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コンデンサのノイズはセルの構造と負荷の状況と密接に関連している。コンデンサユニットの構造、負荷条件、任意の1つの変化によって、コンデンサノイズも変化する。現在、コンデンサのノイズ測定に対して全容量負荷を採用する、即ち完全にキャパシタの運行時の電流分量をシミュレーションすることは、コンデンサ容量が通常比較的大きいため、全負荷ノイズ試験は設備容量に対する要求が非常に高い。現在、コンデンサに対して単周波数掃引周波数を用いる方法も研究されているが、一定の成果が得られているが、シングル周波数掃引試験の量は非常に大きい。本文では、コンデンサの多周波数掃引周波数測定の方法について詳しく述べ、多周波等価電圧計算、多周波合成方法について述べ、この方法は一回の測量中に複数の周波数特性を獲得し、掃引周波数試験の仕事量を大幅に減少した。本論文では、試験品に対してマルチ周波数掃引テストを行い、4回の試験を用いて、試作品コンデンサの周波数特性を獲得した。周波数特性に基づいて,全容量負荷法と走査周波数法の間の差異を比較した。Data from Wanfang. Translated by JST【JST・京大機械翻訳】
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, 【Automatic Indexing@JST】
分類 (5件):
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電力変換器  ,  固体デバイス製造技術一般  ,  固体デバイス計測・試験・信頼性  ,  静電機器  ,  脳・神経系モデル 
タイトルに関連する用語 (5件):
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