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J-GLOBAL ID：201802267386430582   整理番号：18A0442976

近接場測定と結合した静電放電シミュレーション環境を確立する【Powered by NICT】

Establish electrostatic discharge simulation environment combined with near-field measurement

著者 (3件)： Tsai Chia-Hsuan (Micro Electronic Packaging Laboratory, Department of Electrical Engineering, National University of Kaohsiung, Taiwan) ,  Li Cheng-Dao (Micro Electronic Packaging Laboratory, Department of Electrical Engineering, National University of Kaohsiung, Taiwan) ,  Wu Sung-Mao (Micro Electronic Packaging Laboratory, Department of Electrical Engineering, National University of Kaohsiung, Taiwan)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017  号： EPTC  ページ： 1-4  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 時間経過として,ESDに起因する故障の数は工学における増加傾向を示していた。ESDは過去よりも重要であると考えられる。電流経路を探索する方法を見出すことが必要である。電流経路を探すと電荷散逸の方向を見出すために近接場による静電放電(ESD)の測定環境を目的としている。論文で二つの重要な段階である。第一段階は,環境を設定し,先端設計システム(ADS)によるESDモデルを作ることである。第二段階は,異なるタイプの伝送線路の設計と測定した。これら二段階は環境をチェックとESDによる送電線の異なる状況を理解することである。Copyright 2018 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： *シミュレーション ,  送電線 ,  モデル ,  *近接場 ,  伝送線路 ,  電荷
準シソーラス用語： 設計システム ,  電流経路 ,  *静電気放電 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (3件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G) ,  雑音測定  (ND04030F) ,  プリント回路  (NA05040O)

タイトルに関連する用語 (4件)： 近接場 ,  静電放電 ,  シミュレーション ,  環境