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J-GLOBAL ID：201802267551520180   整理番号：18A0382168

平面偏光器を用いた光弾性を用いた応力測定への位相シフトの計算法【Powered by NICT】

Computational methods of phase shifting to stress measurement with photoelasticity using plane polariscope

著者 (3件)： Magalhaes Pedro Americo Almeida (Department of Mechanical Engineering, Pontificia Universidade Catolica de Minas Gerais, Av. Dom Jose Gaspar, 500, Coracao Eucaristico, Belo Horizonte, Minas Gerais, 30535-901, Brazil) ,  Magalhaes Cristina Almeida (Department of Mechanical Engineering, Pontificia Universidade Catolica de Minas Gerais, Av. Dom Jose Gaspar, 500, Coracao Eucaristico, Belo Horizonte, Minas Gerais, 30535-901, Brazil) ,  Magalhaes Ana Laura Mendonca Almeida (Department of Mechanical Engineering, Pontificia Universidade Catolica de Minas Gerais, Av. Dom Jose Gaspar, 500, Coracao Eucaristico, Belo Horizonte, Minas Gerais, 30535-901, Brazil)
資料名： Optik  (Optik)
巻： 130  ページ： 213-226  発行年： 2017年 
JST資料番号： D0251A  ISSN： 0030-4026  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 光弾性技術は,ディジタル画像を用いた過去数年間におけるいくつかの新たな関心と容易にアベイラブルになる画像処理の新しい方法が見られた。しかし,精度,正確度,及び光弾性法の自動化を改善するためにさらなる研究が必要である。本研究の目的は,平面偏光器を用いたディジタル光弾性における位相シフト法のための新しい数値方程式を得ることである。モデルは単純さと本装置の低コストのために,平面偏光器を開発した。アナライザーを回転させるだけで位相シフトとそれぞれの強度方程式を開発すること。直径方向圧縮力を受けているリングは実験的検証に使用されている。これらの強度方程式から,等傾線と等色パラメータのための方程式を新しい数値法を適用して推定した。この方法は,任意の数の画像を用いた等傾線と等色パラメータを計算するために用いることができる。いくつかの分析は,異なる数の写真画像を用いて行った。結果は,より多くの位相ステップ画像を利用したときの低減誤差を示した。,光弾性画像の誤差の影響に起因する結果の不確実性は大量の位相ステップ画像の低減できることを結論した。Copyright 2018 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】

シソーラス用語： 写真像 ,  画像 ,  画像処理 ,  分析機器 ,  ディジタル画像 ,  光弾性試験 ,  *位相 ,  自動化 ,  色合せ ,  ディジタル方式 ,  不確実性 ,  *位相シフト ,  *光弾性 ,  *直線偏光

著者キーワード (5件)： 光弾性 ,  位相シフト ,  平面偏光器 ,  応力測定 ,  実験的応力解析

分類 (1件)： 干渉測定と干渉計  (BD07070G)

タイトルに関連する用語 (5件)： 平面偏光 ,  光弾性 ,  応力測定 ,  位相シフト ,  計算法