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J-GLOBAL ID：201802268261114908   整理番号：18A0330648

95°Eと比較におけるIRI-2012に伴う2010年から2015年のEIAの北端における電離層パラメータと垂直電子密度分布の変化【Powered by NICT】

Variations of the ionospheric parameters and vertical electron density distribution at the northern edge of the EIA from 2010 to 2015 along 95°E and comparison with the IRI-2012

著者 (2件)： Kalita Bitap Raj (Center for Atmospheric Studies and Department of Physics, Dibrugarh, Dibrugarh University, Dibrugarh 786004, Assam, India) ,  Bhuyan Pradip Kumar (Center for Atmospheric Studies and Department of Physics, Dibrugarh, Dibrugarh University, Dibrugarh 786004, Assam, India)
資料名： Advances in Space Research  (Advances in Space Research)
巻： 60  号： 2  ページ： 295-306  発行年： 2017年 
JST資料番号： H0831A  ISSN： 0273-1177  CODEN： ASRSDW  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 2015年10月まで2010年7月のEIAの北端に位置する通常Dibrugarh(27.5°N,95°E,43°)低中緯度測定所上で垂直電子密度プロファイルを測定し底部プロファイルとイオノゾンデGPST EC支援トップサイドサウンダモデル(TSM)頂部プロファイルから構築した。底部密度プロファイルは,手動スケールイオノグラム上のPOLANを用いて得た。頂部を初めてPOLANを集積した修飾イオノゾンデ支援TSMモデル(POLANにより支援された水道TSM)で構成されている。再構成された鉛直分布はDibrugarh上のCOSMIC/FORMOSAT-電波掩蔽測定から得られたIRI予測された密度プロファイルと電子密度プロファイルと比較した。底部密度プロファイルは,IRI底側機能に適合した最適底部厚さパラメータB0及び形状パラメータB1を得ることである。Dibrugarh上のBパラメータの時間的および太陽活動度変動を調べ,A BT2009オプションを持つにおけるIRI-2012モデルにより予測されたものと比較した。IRIモデルにより予測された底部厚さパラメータB0は夜間と午前でDibrugarh上で測定したB0に類似していることが分かった。相違は早朝と午後の期間に観測された。IRIはB0の朝の崩壊を再現せず,午後の期間にDibrugarh上のB0を過大評価し,特に夏と分点。IRIモデル予測は低太陽活動の冬で測定されたB0に密接している。Dibrugarh上のB0は研究の期間を含むほぼ太陽周期24の前半の太陽活動と約15%増加することを見出しているが,太陽活動の影響は,B1パラメータでは観察されなかった。TaPプロファイラから得られた頂部プロファイルは午後日の出期間から分点におけるIRI頂部より厚いであるが,夏の日中のIRIに類似している。底部の違いは,A BT2009--模型におけるから90°100°E経度地上測定の非含有に起因する可能性がある頂部の違いはトップサイドサウンダプロファイルデータの不均一縦方向分布とこの経度における強い噴水効果による可能性がある。Copyright 2018 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】

シソーラス用語： 経度 ,  太陽活動度 ,  太陽周期 ,  モデル ,  *密度分布 ,  鉛直分布 ,  予測 ,  再構成 ,  太陽活動 ,  中緯度 ,  *電離層
準シソーラス用語： プロファイラ ,  形状パラメータ ,  電波掩蔽 ,  *電子密度分布 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (6件)： IRI(国際標準電離層) ,  B0 ,  B1 ,  密度プロファイル ,  TSM ,  POLAN

分類 (1件)： 電離層・熱圏  (DC04050O)

タイトルに関連する用語 (6件)： IRI ,  EIA ,  電離層 ,  パラメータ ,  垂直 ,  電子密度分布