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J-GLOBAL ID:201802268625365047   整理番号:18A1482830

ラボチップ応用のためのシリコンプラズモン集積干渉計センサ【JST・京大機械翻訳】

Silicon plasmonic integrated interferometer sensor for lab on chip applications
著者 (4件):
資料名:
巻: 427  ページ: 319-325  発行年: 2018年 
JST資料番号: A0678B  ISSN: 0030-4018  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: オランダ (NLD)  言語: 英語 (EN)
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シリコンプラットフォーム上のセンシング構造を,アクセスシリコン導波路ポートを用いて提案した。センシング機構は主に両干渉に対するSPP波間の干渉効果に基づいている。センシングプラットフォームは窒化ケイ素ベース上に堆積した金属チャネルを含む。上部および底部金属表面は,2つの分離SPPモードを運んだ。トップおよびボトム金属界面における入力シリコン導波路からSPP波への結合を最大化するために,寸法を最適化した。この集積した簡単なプラズモン設計を用いて,高感度で小さな足プリントを達成した。全波解析を行い,性能を調べ,寸法と材料を最適化した。最適化された設計と最適な材料は,19400nm/RIUの感度を強化した。Copyright 2018 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】
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分類 (2件):
分類
JSTが定めた文献の分類名称とコードです
光導波路,光ファイバ,繊維光学  ,  干渉測定と干渉計 

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