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J-GLOBAL ID:201802269556591941   整理番号:18A1774277

セットアップとホールド時間違反の検出のための40nmクリティカルパスモニタ【JST・京大機械翻訳】

A 40nm Critical Path Monitor for the Detection of Setup and Hold Time Violations
著者 (2件):
資料名:
巻: 2018  号: PATMOS  ページ: 13-18  発行年: 2018年 
JST資料番号: W2441A  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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厳しい低電力要件の現状において,複雑な動的周波数と電圧スケールシステムは,性能要件を満たす低い限界に電子チップの動作条件を常に押し込むことを試みている。また,同期電子システムのテスト時間において,タイミング違反の発生,特に時間違反を特定し,位置決めし,修正しなければならない。重要な経路監視装置は,これらの2つの目的に役立つ。それらは,システムの臨界経路に対するクロック信号に関連して過渡現象が生成される遅延を測定する。本研究では,2つの構成可能なディジタル出力を得るための重要な経路監視アーキテクチャを導入した。すなわち,設定時間違反に対するものと,保持時間違反に対するものである。モニタは,合成レプリカを導入する必要がなく,クリティカルパスを直接検知する。このアーキテクチャは40nmの商業技術で検証されており,4028μm~2の面積を持ち,PVTの変動に対して非常にロバストである。Copyright 2018 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】
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, 【Automatic Indexing@JST】
分類 (1件):
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図形・画像処理一般 
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