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J-GLOBAL ID：201802269656401500   整理番号：18A0199132

製品研究開発における問題解決にTRIZ理論の応用プローブカードテスタの事例研究【Powered by NICT】

Application of TRIZ Theory to Solving Problems in Product Research and Development - Case Study of Probe Card Tester

著者 (4件)： Y. Huang C. ,  J. Jan T. ,  J. Yang J. ,  C Wu C.
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017  号： ICCAIRO  ページ： 193-197  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： ウエハは集積回路(IC)製造と包装後プローブにより試験しなければならない,目的は,電気的機能不全チップをフィルタリングすることである。プローブカードはチップの電気信号を抽出し,不良スクリーニングのためのプローバに送信する。完成したプローブカードは正常な機能を保証するプローブカード試験機により試験しなければならない。しかし,高周波試験環境では,プローブカードは,プローブカード試験機により試験し,伝送線路効果は信号歪を引き起こし,あるいは長すぎる伝送路は,信号減衰を引き起こし,プローブカードは,欠陥としてmisrecognizedである。プローブカードテスタ工学系の種々の成分間の機能的関係を判定する発明的問題解決(TRIZ)と機能解析(FA)の理論を用いて,機能的欠点を認識した。「ネットワークアナライザ」,「異方性導電膜(ACF)」と「静電容量タッチ技術」解決法を提案した。これらの提案は,伝送線路効果に起因する信号歪みを改善し,長すぎる伝送路による信号減衰を解決し,革新的な研究開発を実装し,既存の問題を解決した。Copyright 2018 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： ネットワークアナライザ ,  試験装置 ,  スクリーニング ,  *事例研究 ,  HF【周波数】 ,  フィルタリング ,  信号歪 ,  伝送線路 ,  集積回路 ,  *プローブ ,  *問題解決 ,  電気信号 ,  静電容量
準シソーラス用語： 信号減衰 ,  *プローブカード , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： 固体デバイス材料  (NC03020K) ,  プリント回路  (NA05040O)

タイトルに関連する用語 (5件)： 研究 ,  開発 ,  問題解決 ,  TRIZ理論 ,  応用