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J-GLOBAL ID：201802270312724461   整理番号：18A0942179

低誘電率および低損失材料の正確な特性評価のための新しい二重チャネル測定法【JST・京大機械翻訳】

A New Dual-Channel Measurement Method for Accurate Characterization of Low-Permittivity and Low-Loss Materials

著者 (3件)： Hao Xu (National Institute of Metrology, Beijing, China) ,  Weijun Liang (National Institute of Metrology, Beijing, China) ,  Qiulai Gao (National Institute of Metrology, Beijing, China)
資料名： IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement  (IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement)
巻： 67  号： 6  ページ： 1370-1379  発行年： 2018年 
JST資料番号： C0232A  ISSN： 0018-9456  CODEN： IEIMAO  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 低誘電率と低損失均一材料の誘電特性を測定するために,デュアルチャネル減衰測定システムを開発した。一連の透過測定から散乱パラメータを導出した。これは,一対の自動チューナによってセットされたソースと負荷ポートの異なる反射係数の下で実行された。自動チューナの反射係数を,測定前にベクトルネットワークアナライザ(VNA)で較正した。不整合誤差は,測定と計算過程で効果的に除去される。測定散乱パラメータはVNAによるものより非常に小さい不確実性であった。ポリイミドエアロゲル試料をXバンド周波数で測定し,その誘電率は約1.075であり,損失正接は約0.001である。対応する標準不確実性は,それぞれ0.0014と0.00048であった。損失正接の不確実性はVNAに基づく結果と比較して1桁低減した。提案した方法の検証のために,異なる厚さの2つのポリテトラフルオロエチレン(PTFE)試料の測定も行った。本論文は,低誘電率と低損失材料のための改善された精度を有する誘電特性評価のための広帯域方法を提供して,他の導波路バンドに容易に拡張することができた。Copyright 2018 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 広帯域 ,  反射率 ,  不確実性 ,  同調器 ,  導波路 ,  不整合 ,  *キャラクタリゼーション ,  損失正接 ,  *誘電率 ,  誘電性 ,  計測システム
準シソーラス用語： Xバンド ,  ベクトルネットワークアナライザ ,  Sパラメータ ,  *低誘電率 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： R,L,C,Q,インピーダンス,誘電率の計測法・機器  (AD07030N)

タイトルに関連する用語 (5件)： 低誘電率 ,  低損失 ,  特性評価 ,  二重チャネル ,  測定法