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J-GLOBAL ID：201802270428831448   整理番号：18A0585466

低温度での低密度ポリエチレンにおける空間電荷挙動【Powered by NICT】

Space charge behavior in low density polyethylene at low temperatures

著者 (3件)： Wang Yalin (Shanghai Jiao Tong University, School of Electronic Information and Electrical Engineering, Shanghai, 200240, China) ,  Wu Jiandong (Shanghai Jiao Tong University, School of Electronic Information and Electrical Engineering, Shanghai, 200240, China) ,  Yin Yi (Shanghai Jiao Tong University, School of Electronic Information and Electrical Engineering, Shanghai, 200240, China)
資料名： IEEE Transactions on Dielectrics and Electrical Insulation  (IEEE Transactions on Dielectrics and Electrical Insulation)
巻： 24  号： 6  ページ： 3860-3868  発行年： 2017年 
JST資料番号： W0578A  ISSN： 1070-9878  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 本研究では,低温から高温への高分子膜の空間電荷分布を測定できる,パルス静電応力(PEA)システムを紹介した。ストレスを受けた低密度ポリエチレン(LDPE)膜直流(DC)の空間電荷挙動は 40から70°Cの温度で調べた。空間電荷結果はhomochargesは低温( 40~ 0°C)での電極の近傍に蓄積することを示し,周囲温度(30 °C)での短い回路,負電荷中に現れるヘテロ電荷は徐々に温度の上昇とともに分布を支配した。さらに, 20°Cで蓄積された空間電荷密度は調べた温度範囲,ポリエチレン分子鎖分岐により形成されるトラップ準位に関連している可能性がある以内に最大に達した。この知見は,他の研究者によって報告されたLDPEの動的機械分析(DMA)結果と熱刺激電流(TSC)と一致した。に加えて,空間電荷減衰データに基づいて計算した種々の温度でのキャリアの見かけの移動度は,移動度は初めに低下し,そして 40から70°Cまでの温度の増加とともに増加することを示した。見かけの移動度の変化は,ホッピングモデルにより説明できた。添加では,Kelvinプローブを用いた原子間力顕微鏡(A FM)の助けを借りて,アルミニウム/LDPE/半導体の接触モードは陽極の周りに注入された正孔の遅い減衰をもたらすことを主な理由であることが分かったが,陰極周辺注入された電子と比較した。Copyright 2018 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： 高分子膜 ,  移動度 ,  アノード ,  *低密度ポリエチレン ,  *電荷 ,  原子間力顕微鏡 ,  *低温 ,  分子鎖 ,  高温 ,  *空間電荷 ,  熱刺激電流 ,  正孔 ,  半導体 ,  カソード
準シソーラス用語： 電荷密度 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： 誘電体一般  (BM05010F) ,  絶縁材料  (NA04030W)

タイトルに関連する用語 (4件)： 低温度 ,  低密度ポリエチレン ,  空間電荷 ,  挙動