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J-GLOBAL ID：201802270977417321   整理番号：18A0651658

eMMC信頼性解析と増強対策研究【JST・京大機械翻訳】

Analyzing and enhancing reliability of eMMC devices

著者 (1件)： Xu Yuanchao (首都師范大学信息工程学院,北京,100048)
資料名： Jisuanji Yingyong Yanjiu  (Jisuanji Yingyong Yanjiu)
巻： 34  号： 11  ページ： 3367-3372  発行年： 2017年 
JST資料番号： C2536A  ISSN： 1001-3695  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 中国 (CHN)  言語： 中国語 (ZH)

抄録/ポイント： eMMCは自己管理可能なフラッシュメモリ(NANDフラッシュ)チップであり、内部にコントローラを集積し、マルチチップパッケージを実現し、応用インターフェース設計を簡略化し、板空間を節約し、モバイル端末領域で広く応用されている。しかしながら,フラッシュメモリに基づく記憶装置は,ビット誤り,メタデータ損傷,非直列書き込み,およびデバイスの信頼性を改善することができないので,信頼性を改善するために,いくつかの信頼性強化対策を提案した。eMMC仕様によって提供された信頼性の特性を完全に整理し,分割管理,保護管理,信頼性書込,データラベル,遮断通知などを含んでいる。既存の各種信頼性対策について総合的に分析し、いくつかの信頼性を向上させる措置を提案した。それは,ファイルシステムの知覚的なバランス,データ属性による合理的な分割,書込みの回数の減少,書込み効果の減少,携帯電話への応用におけるメタデータの除去,応用の差異の細粒度制御の信頼性,一貫性の確保の前提の下でのログの減少などを含む。Data from Wanfang. Translated by JST【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： メタデータ ,  携帯電話 ,  *信頼性解析 ,  記憶装置 ,  フラッシュメモリ ,  符号誤り ,  *信頼性 ,  自己管理 ,  ファイルシステム ,  簡素化 ,  制御装置
準シソーラス用語： 細粒度 ,  モバイルデバイス ,  インタフェイスデザイン ,  NANDフラッシュ , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (5件)： eMMC ,  reliability ,  metadata corruption ,  power loss protection ,  NAND Flash

分類 (5件)： 記憶装置  (JC04060F) ,  半導体集積回路  (NC03162T) ,  固体デバイス製造技術一般  (NC03030V) ,  固体デバイス材料  (NC03020K) ,  移動通信  (ND08030H)

タイトルに関連する用語 (4件)： 信頼性解析 ,  増強 ,  対策 ,  研究