文献

J-GLOBAL ID：201802271649417290   整理番号：18A0151006

Si太陽電池配置で得られたAl+Si界面光学的性質【Powered by NICT】

Al+Si Interface Optical Properties Obtained in the Si Solar Cell Configuration

著者 (4件)： Subedi Indra (I. Subedi, Prof. N. J. Podraza, Department of Physics & Astronomy and Wright Center for Photovoltaics Innovation & Commercialization, University of Toledo,, Toledo, OH 43606, USA) ,  Silverman Timothy J (Dr. T. J Silverman, Dr. M. G. Deceglie, National Renewable Energy Laboratory, Golden, CO 80401, USA) ,  Deceglie Michael G. (Dr. T. J Silverman, Dr. M. G. Deceglie, National Renewable Energy Laboratory, Golden, CO 80401, USA) ,  Podraza Nikolas J. (I. Subedi, Prof. N. J. Podraza, Department of Physics & Astronomy and Wright Center for Photovoltaics Innovation & Commercialization, University of Toledo,, Toledo, OH 43606, USA)
資料名： Physica Status Solidi. A. Applications and Materials Science  (Physica Status Solidi. A. Applications and Materials Science)
巻： 214  号： 12  ページ： ROMBUNNO.201700480  発行年： 2017年 
JST資料番号： D0774A  ISSN： 1862-6300  CODEN： PSSABA  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： ドイツ (DEU)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： Alは市販のシリコン(Si)ウエハ太陽電池の裏面メタライゼーションのための一般的に使用される材料である。本研究では,そのシリコン分光偏光解析を,Siウエハ太陽電池のようなAl+Si界面光学特性を測定するために試験試料に使用されている。二種類の分光エリプソメータは1128 2500nmの波長範囲でAl+Si界面の光学的性質の測定に用いた。検証のために,測定した界面光学特性はランダムピラミッドテクスチャを持つカプセル化Si太陽電池の300 2500nmの波長範囲で光線追跡シミュレーションで使用されている。光線追跡モデルは,市販Siモジュールの垂直入射で測定した全反射率と良く一致した。ここに提示したAl+Si光学的性質は,カプセル化Si太陽電池における反射と寄生吸収から生じる主要な放射照度/電流フラックス損失の定量的評価を可能にする。Copyright 2018 Wiley Publishing Japan K.K. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】

シソーラス用語： 全反射 ,  *太陽電池 ,  シミュレーション ,  メタライゼーション ,  *界面 ,  *光学的性質 ,  放射照度 ,  *アルミニウム ,  光線追跡 ,  エリプソメータ ,  *ケイ素
準シソーラス用語： 垂直入射 ,  波長領域 ,  シリコンウエハ ,  分光偏光解析法 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (6件)： アルミニウム ,  連けいさせるか ,  光学的性質 ,  シリコン ,  太陽電池 ,  分光偏光解析法

分類 (1件)： 太陽電池  (NC03084O)

タイトルに関連する用語 (4件)： Si ,  太陽電池 ,  界面 ,  光学的性質