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J-GLOBAL ID：201802273646515857   整理番号：18A0136769

電子パッケージのための行動試験の生成【Powered by NICT】

Generation of testing actions for electronic packages

著者 (1件)： Nikonov Alexander V. (Omsk State Technical University, Omsk, Russia)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017  号： Dynamics  ページ： 1-9  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 本論文では,UHF帯の電子パッケージの検証のために設計された電子産業試験システムのための試験作用を生成する問題を検討した。試験信号の多チャネル発生器の設定振幅と時間パラメータの複雑な問題を示した。多チャネル広範囲信号発生の問題点と時間スケールで周波数制御,立上り時間と立下り時間制御,パルス時間とその位置。本論文ではまた,異なるチャネルで互いに関連するパルスシフトの問題を解決する。高精度アナログおよびディジタルピコ秒遅延線の構築の方法を示唆した。また試験信号の振幅パラメータを調整する手段を示した。Copyright 2018 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： UHF【周波数】 ,  ピコ秒 ,  チャネル ,  遅延線 ,  信号発生 ,  *試験信号 ,  ディジタル方式 ,  周波数制御 ,  パルス ,  アナログ系
準シソーラス用語： 高精度 ,  立下り時間 ,  立上り時間 ,  マルチチャネル ,  検査システム , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 電力系統一般  (NB02000E)

タイトルに関連する用語 (3件)： 電子パッケージ ,  行動 ,  試験