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J-GLOBAL ID:201802275567901186   整理番号:18A1086530

S-on-1測定法による薄膜レーザ損傷の累積効果【JST・京大機械翻訳】

Cumulative effect of thin film laser damage under S-on-1 measurement mode
著者 (5件):
資料名:
巻: 42  号:ページ: 39-42  発行年: 2018年 
JST資料番号: C2072A  ISSN: 1001-3806  CODEN: JJISEO  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: 中国 (CHN)  言語: 中国語 (ZH)
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薄膜レーザ損傷のメカニズムと影響因子を研究するために,フラットトップビーム放射測定の原理に基づいて,1064nmのNd:YAGレーザを用いた。損傷閾値の測定原理を用いて、1-on-1とS-on-1の二種類の測量方式の特徴を分析し、それぞれ測定実験を行った。二分法により照射レーザのエネルギーを測定し、各エネルギー密度で20個の測定点を照射し、ゼロ確率損傷閾値と最小二乗法を用いて測定結果を確定した。結果は,同じ薄膜の,1-on-1測定の損傷閾値が15.75J/cm2であり,S-on-1測定の損傷閾値が11.90J/cm2であることを示した。この結果は薄膜レーザ損傷のメカニズムと影響因子を深く研究するために重要な意義を持つ。Data from Wanfang. Translated by JST【JST・京大機械翻訳】
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, 【Automatic Indexing@JST】
分類 (1件):
分類
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レーザ照射・損傷 
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