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J-GLOBAL ID：201802275577217157   整理番号：18A0847956

電子デバイスのための低周波雑音特性化セットアップの解析【JST・京大機械翻訳】

Analysis of low-frequency noise characterisation set-up for electronic devices

著者 (3件)： Hodges Jason T. (School of Engineering, Macquarie University, NSW 2109, Australia) ,  Heimlich Michael (School of Engineering, Macquarie University, NSW 2109, Australia) ,  Khandelwal Sourabh (School of Engineering, Macquarie University, NSW 2109, Australia)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2018  号： AMS  ページ： 39-40  発行年： 2018年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 本論文では,電子デバイスの低周波雑音特性化に関する研究を報告した。低周波雑音測定は,全測定装置に存在するいくつかの雑音源と複雑である。異なる雑音源は,装置以外の音源からの雑音として複雑な素子からの雑音信号の測定を抑制または除去する必要がある。典型的な雑音測定装置における種々の臨界成分からの雑音信号の明確な定量的理解を示した。ここで示した定量分析は電子デバイスの正確な雑音測定のためのガイドとして役立つ。Copyright 2018 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 定量分析 ,  *雑音 ,  計測器 ,  臨界 ,  雑音発生器 ,  音源 ,  雑音測定 ,  *キャラクタリゼーション ,  *低周波雑音
準シソーラス用語： *電子素子 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： トランジスタ  (NC03070N)

タイトルに関連する用語 (5件)： 電子デバイス ,  低周波雑音 ,  特性化 ,  セットアップ ,  解析