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J-GLOBAL ID：201802276055262568   整理番号：18A1045035

信頼性工学:技術スケーリングを可能にする助け【JST・京大機械翻訳】

Reliability engineering: Help enable technology scaling

著者 (11件)： Pae S. (Foundry Business, Samsung Electronics, Gi-Heung City, Korea) ,  Sagong H. C. (Foundry Business, Samsung Electronics, Gi-Heung City, Korea) ,  Jin M. (Foundry Business, Samsung Electronics, Gi-Heung City, Korea) ,  Jeong T. (Foundry Business, Samsung Electronics, Gi-Heung City, Korea) ,  Kim J. (Foundry Business, Samsung Electronics, Gi-Heung City, Korea) ,  Baick I. (Foundry Business, Samsung Electronics, Gi-Heung City, Korea) ,  Shim H. (Foundry Business, Samsung Electronics, Gi-Heung City, Korea) ,  Park J. (Foundry Business, Samsung Electronics, Gi-Heung City, Korea) ,  Kim H. (Foundry Business, Samsung Electronics, Gi-Heung City, Korea) ,  Choi Y. C. (Foundry Business, Samsung Electronics, Gi-Heung City, Korea) ,  Shin S. (Foundry Business, Samsung Electronics, Gi-Heung City, Korea)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2018  号： CSTIC  ページ： 1-5  発行年： 2018年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 本論文では,技術の信頼性を改善するために用いることができる信頼性工学,モデリング,および特性化法の多くの側面について議論した。結果として,より高いトランジスタVmaxまたは減少したdppm,回路および/または製品レベルでのより許容できるエージングを,正確なウエハレベル信頼性特性化およびモデリングによって利用することができた。BEOLと遠BEOLでは,シミュレーションと低電圧応力データの助けを借りて改良を行うことができる領域により,EMとBEOL金属間距離要求を検討した。CPI応力結果もカバーされる。製品レベル信頼性スタックアップを,より正確なdppms投影を提供するために評価した。余分な信頼性マージンは,更なる次元スケーリングまたは技術開発のための最先端コミットに適用でき,必要な高性能を達成するために過剰駆動を増加させ,自動車応用のための異なるグレードレベルをサポートすることができる。Copyright 2018 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： キャラクタリゼーション ,  自動車 ,  トランジスタ ,  モデリング ,  *信頼性
準シソーラス用語： 低電圧 ,  BEOL ,  *信頼性工学 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G) ,  固体デバイス材料  (NC03020K)

タイトルに関連する用語 (2件)： 信頼性工学 ,  スケーリング