文献

J-GLOBAL ID：201802276755163779   整理番号：18A0453010

有限要素解析によるガラス基板のき裂発生メカニズムの調査

著者 (3件)： 篠原亜門 (群馬大 大学院理工学府) ,  荘司郁夫 (群馬大 大学院理工学府) ,  梅村優樹 (凸版印刷)
資料名： Symposium on Microjoining and Assembly Technology in Electronics  (Symposium on Microjoining and Assembly Technology in Electronics)
巻： 24th  ページ： 221-224  発行年： 2018年01月30日 
JST資料番号： L2496A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *基板 ,  *電気装置部品 ,  *亀裂発生 ,  数値解析 ,  機構 ,  銅めっき
準シソーラス用語： *ガラス基板 ,  有限要素解析

分類 (2件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G) ,  セラミック材料  (HC04040H)

タイトルに関連する用語 (5件)： 有限要素解析 ,  ガラス基板 ,  き裂発生 ,  メカニズム ,  調査