Yoo Seunghwan について
Dept. of Electrical Eng. and Computer Science, Northwestern University, Evanston, IL, 60208, USA について
Ruiz Pablo について
Dept. of Electrical Eng. and Computer Science, Northwestern University, Evanston, IL, 60208, USA について
Huang Xiang について
Mathematics and Computer Science Division, Argonne National Laboratory, Lemont, IL, 60439, USA について
He Kuan について
Dept. of Electrical Eng. and Computer Science, Northwestern University, Evanston, IL, 60208, USA について
Wang Xiaolei について
James Franck Institute, University of Chicago, Chicago, IL, 60637, USA について
Gdor Itay について
James Franck Institute, University of Chicago, Chicago, IL, 60637, USA について
Selewa Alan について
James Franck Institute, University of Chicago, Chicago, IL, 60637, USA について
Daddysman Matthew について
James Franck Institute, University of Chicago, Chicago, IL, 60637, USA について
Ferrier Nicola J. について
Mathematics and Computer Science Division, Argonne National Laboratory, Lemont, IL, 60439, USA について
Hereld Mark について
Mathematics and Computer Science Division, Argonne National Laboratory, Lemont, IL, 60439, USA について
Scherer Norbert について
James Franck Institute, University of Chicago, Chicago, IL, 60637, USA について
Cossairt Oliver について
Dept. of Electrical Eng. and Computer Science, Northwestern University, Evanston, IL, 60208, USA について
Katsaggelos Aggelos K. について
Dept. of Electrical Eng. and Computer Science, Northwestern University, Evanston, IL, 60208, USA について
IEEE Conference Proceedings について
分解能 について
画像処理 について
再構成 について
顕微鏡 について
パラメータ推定 について
三次元 について
高品質 について
モデルパラメータ について
三次元画像 について
事前知識 について
観測モデル について
焦点面 について
Bayes法 について
画像化 について
3D画像再構成 について
図形・画像処理一般 について
焦点 について
顕微鏡 について
3D画像再構成 について
パラメータ推定 について