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J-GLOBAL ID:201802277002486595   整理番号:18A1808575

DC GILにおける自由金属粒子のリスク評価【JST・京大機械翻訳】

Risk Assessment of Free Metal Particles in DC GIL
著者 (5件):
資料名:
巻: 2018  号: ICD  ページ: 1-4  発行年: 2018年 
JST資料番号: W2441A  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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DCガス絶縁ライン(GIL)内の自由金属粒子は,絶縁ガスまたは絶縁体表面における電界を歪め,部分放電を誘起することにより絶縁システムに大きな脅威を課す。絶縁と影響因子に関する自由粒子の重症度を調査するために,種々の圧力のSF_6で満たされた同軸円筒電極システムを確立して,種々の長さの線形自由粒子をセットして,部分放電信号をパルス電流法で測定して,運動挙動を高速カメラで観察した。次に,部分放電の平均振幅と時間間隔を解析した。研究は,平均部分放電振幅が粒子長と粒子に付着した最大電荷に比例することを示した。したがって,部分放電信号は粒子の重症度と長さを評価するために使用できる。中心電極が負の電圧のとき,高電圧電極に近い領域では,粒子は「ホタル」として,接地電極からの粒子バウンスとなり,中心電極が正のとき,円形運動として接地電極に落ちる。負の電圧の下での部分放電の平均振幅は,正の電圧の下でのそれの約2~5倍であるが,時間間隔はより少ない。したがって,遊離金属粒子によって引き起こされた部分放電の特性は,絶縁と故障認識に関する粒子の重症度に関する研究のための基礎を提供することができた。Copyright 2018 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】
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, 【Automatic Indexing@JST】
分類 (5件):
分類
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医用画像処理  ,  音声処理  ,  NMR一般  ,  符号理論  ,  図形・画像処理一般 
タイトルに関連する用語 (3件):
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