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J-GLOBAL ID：201802277168120372   整理番号：18A0774726

ミュー粒子X線を用いた元素特異的イメージング

Element Specific Imaging Using Muonic X-rays

著者 (5件)： HILLIER Adrian (Rutherford Appleton Lab., Oxfordshire, GBR) ,  ISHIDA Katsu (RIKEN, Saitama, JPN) ,  SELLER Paul (Rutherford Appleton Lab., Oxfordshire, GBR) ,  VEALE Matthew C. (Rutherford Appleton Lab., Oxfordshire, GBR) ,  WILSON Matthew D. (Rutherford Appleton Lab., Oxfordshire, GBR)
資料名： JPS Conference Proceedings (Web)  (JPS Conference Proceedings (Web))
巻： 21  ページ： 011042 (WEB ONLY)  発行年： 2018年03月01日 
JST資料番号： U1201A  ISSN： 2435-3892  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

シソーラス用語： *μ粒子 ,  *X線 ,  *元素 ,  *画像処理 ,  *X線画像 ,  *化学組成 ,  *蛍光X線分析 ,  光子 ,  X線スペクトル ,  Ge半導体検出器 ,  半導体検出器 ,  *分布 ,  *エネルギー分布 ,  *X線分光分析 ,  *元素組成 ,  *元素分布
準シソーラス用語： *イメージング ,  *X線イメージング ,  *X線蛍光分析 ,  *エネルギースペクトル

分類 (6件)： X線技術  (BA02060D) ,  X線スペクトル  (BH03040J) ,  エキゾチック原子・分子  (BH09010S) ,  光学情報処理  (BD03060T) ,  無機物質中の元素の物理分析  (CC03022H) ,  その他の物理分析  (CC03014E)

タイトルに関連する用語 (4件)： ミュー粒子 ,  X線 ,  元素 ,  イメージング