Yoneda Tomoaki について
Department of Electrical and Electronic Engineering, National Institute of Technology, Fukui College, Sabae, Fukui-ken 916-8507, Japan について
Horikawa Junsei について
Department of Electrical and Electronic Engineering, National Institute of Technology, Fukui College, Sabae, Fukui-ken 916-8507, Japan について
Saijo Satoshi について
Department of Electrical and Electronic Engineering, National Institute of Technology, Fukui College, Sabae, Fukui-ken 916-8507, Japan について
Arakawa Masakazu について
Department of Electrical and Electronic Engineering, National Institute of Technology, Fukui College, Sabae, Fukui-ken 916-8507, Japan について
Yamamoto Yukio について
Department of Electrical and Electronic Engineering, National Institute of Technology, Fukui College, Sabae, Fukui-ken 916-8507, Japan について
Yamamoto Yasukazu について
SR-Center, Ritsumeikan University, Kusatsu, Shiga-ken 525-8577, Japan について
Nuclear Instruments & Methods in Physics Research. Section B. Beam Interactions with Materials and Atoms について
チャネリング について
SIMOX について
軌跡 について
測定精度 について
高速度 について
衝撃 について
ケイ素 について
阻止能 について
イオン について
畳込み について
近似法 について
モンテカルロシミュレーション について
散乱角 について
散乱スペクトル について
阻止能 について
simox について
チャネリング について
CASP について
モンテカルロ法 について
チャネリング,ブロッキング,粒子のエネルギー損失 について
Si について
イオン について
阻止能 について