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J-GLOBAL ID：201802278982010556   整理番号：18A0644940

改良二分探索に基づくVRC高速故障位置決め技術【JST・京大機械翻訳】

Rapid fault localization technology of VRC based on improved binary search

著者 (3件)： Cai Jinyan (軍械工程学院 電子与光学工程系,石家庄,050003) ,  Zhang Junbin (軍械工程学院 電子与光学工程系,石家庄050003;中国空气動力研究与発展中心 超高速空气動力研究所,四川 綿陽621000) ,  Meng Yafeng (軍械工程学院 電子与光学工程系,石家庄,050003)
資料名： Harbin Gongye Daxue Xuebao  (Harbin Gongye Daxue Xuebao)
巻： 49  号： 11  ページ： 151-157  発行年： 2017年 
JST資料番号： W1450A  ISSN： 0367-6234  CODEN： HPKYAY  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 中国 (CHN)  言語： 中国語 (ZH)

抄録/ポイント： 仮想再構成回路(VRC)における故障位置決めの困難さと従来の故障位置決め方法の試験回数が大きいという問題に照準を定め,改良二分探索に基づくVRC高速故障位置決め技術を提案した。VRCのサイズが2列(または2列)より大きくない場合には、直接(逐次)定位故障を行う。VRCのサイズが2行と2列より大きい場合には、まず一回のテストと一回の列テストを行い、プログラム可能ユニット(programmable elements,PE)の故障疑わしい領域を確定する。次に,故障の疑わしい領域の行/列の数を比較し,故障の試験方向として,より少ない数のものを用いた。最後に,試験の方向における故障の疑わしい領域を,実行/列試験原理に従って構成し,そして,「操作」を実行し,そして,出力結果に従って,故障を位置決めした。故障の疑わしい領域が二分に分けられない場合、すべての故障PEを位置付けることができる。故障位置決め性能を解析した。従来のVRC故障位置決め技術と比較して,本論文で提案したVRC高速故障位置決め技術は,連続的に分布した故障のないPEを迅速に検出し,試験領域を急速に縮小し,故障位置決めの試験回数を大幅に減少し,最大試験回数の確率は前者よりはるかに小さかった。単一故障と二重故障位置決めの平均試験回数の減少は50%を超えた。改良した二分探索に基づくVRC高速故障位置決め技術の実現可能性と有効性を検証し、一定の汎用性と工学応用価値がある。Data from Wanfang. Translated by JST【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 再構成 ,  定位 ,  *故障 ,  高速度 ,  汎用性 ,  *位置決め ,  *二分探索

著者キーワード (5件)： evolvable hardware (EHW) ,  fault localization ,  virtual reconfigurable circuits(VRC) ,  programmable elements( PE) ,  binary search

分類 (5件)： 数理物理学  (BA03000W) ,  量子力学一般  (BA06010C) ,  移動通信  (ND08030H) ,  光導波路,光ファイバ,繊維光学  (BD06030H) ,  符号理論  (ND02030R)

タイトルに関連する用語 (2件)： 二分探索 ,  故障