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J-GLOBAL ID：201802279061109451   整理番号：18A2212569

電力故障に対する再初期化自由計算のためのMTJベース非同期回路【JST・京大機械翻訳】

MTJ-based asynchronous circuits for Re-initialization free computing against power failures

著者 (5件)： Onizawa N. (Frontier Research Institute for Interdisciplinary Sciences, Tohoku University, Sendai 980-8578, Japan) ,  Onizawa N. (Research Institute of Electrical Communication, Tohoku University, Sendai 980-8577, Japan) ,  Imai M. (Department of Electronics and Information Theory, Hirosaki University, Hirosaki 036-8561, Japan) ,  Yoneda T. (National Institute of Informatics, Tokyo 101-8430, Japan) ,  Hanyu T. (Research Institute of Electrical Communication, Tohoku University, Sendai 980-8577, Japan)
資料名： Microelectronics Journal  (Microelectronics Journal)
巻： 82  ページ： 46-61  発行年： 2018年 
JST資料番号： A0186A  ISSN： 0026-2692  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 本論文では,電力故障に対する再初期化フリーコンピューティングのための,CMOS/磁気トンネル接合(MTJ)ベースの非同期回路を紹介した。MTJ装置の使用は,処理されたデータが非揮発性で貯蔵されるので,頻繁な電力故障での連続操作を実現することができる。非同期回路は,グローバルクロック信号の代わりに局所制御信号を利用するので,MTJベースの非同期回路は,同期回路で使用される位相同期ループの較正時間を待ることなく,電力供給が回復された後,直ちに再起動できる。安全な回復操作のために,提案した回路は,局所制御信号の異なるタイミングのため,バックアップ位相で起こる可能性のある準安定状態の問題を扱う。さらに,安全なバックアップ操作のためのMTJデバイスの書込み誤り率を低減するために,書込み信頼性のある不揮発性キーパー(ラッチ)を導入した。不揮発性操作による性能オーバーヘッドを評価するために,提案した非同期回路を,TSMC65nm CMOS技術と3端子MTJモデルを用いて設計し,いくつかのベンチマークにおける従来の揮発性非同期回路と比較した。Copyright 2019 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： ベンチマーク ,  *同期回路 ,  非揮発性 ,  誤り率 ,  *電力 ,  CMOS ,  バックアップ ,  *非同期回路 ,  信頼性 ,  位相同期ループ ,  位相 ,  *故障 ,  安全性 ,  準安定状態
準シソーラス用語： オーバヘッド , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (5件)： 磁気トンネル接合 ,  3端子MTJ ,  書き込み誤り率 ,  エネルギー収穫 ,  頻繁な電力故障

分類 (3件)： その他の電子回路  (NC05090X) ,  論理回路  (NC05070B) ,  データ保護  (JD01020V)

タイトルに関連する用語 (5件)： 故障 ,  再初期化 ,  計算 ,  MTJ ,  非同期回路