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J-GLOBAL ID：201802279294908960   整理番号：18A1684029

SEUを意識した増分配置によるFPGA上のTMR設計の有効性の改善【JST・京大機械翻訳】

Improving the Effectiveness of TMR Designs on FPGAs with SEU-Aware Incremental Placement

著者 (3件)： Cannon Matthew ,  Keller Andrew ,  Wirthlin Michael
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2018  号： FCCM  ページ： 141-148  発行年： 2018年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 構成スクラビングと組み合わせたTMRは,SRAMベースFPGAs上の放射線誘発CRAMアップセットに対して緩和する有効な技術である。しかしながら,その有効性は,FPGAデバイスへの設計の物理的マッピングにより,低レベルの共通モード故障により制限される。本論文では,実装プロセスの間に一般的なモード故障がどのように導入されるかについて述べ,Xilinx7シリーズFPGAのためのカスタム増分配置ツールを通してそれらを解決するためのアプローチを紹介した。複数世代のデバイスを横切る多重設計は,一般的なモード故障に敏感であることが示されている。増分配置技術を適用することにより,故障注入試験による非緩和設計に対する10,721xの改善が得られた。放射線試験を行い,この技術のMTTFはGEO軌道で91,500日,非緩和設計では367x改善,ベースラインTMRでは5x改善であることを示した。Copyright 2018 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： SRAM ,  放射線 ,  多重化 ,  基準線 ,  故障 ,  *FPGA ,  スクラビング ,  緩和現象
準シソーラス用語： MTTF ,  故障注入 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 図形・画像処理一般  (JE04010I)

タイトルに関連する用語 (6件)： SEU ,  意識 ,  増分 ,  FPGA ,  TMR ,  設計