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J-GLOBAL ID:201802279521119962   整理番号:18A2152488

6~33keVのエネルギー範囲に対する薄いAPDを用いた高フラックス条件下のX線のエネルギー応答【JST・京大機械翻訳】

Energy response of X-rays under high flux conditions using a thin APD for the energy range of 6-33 keV
著者 (13件):
資料名:
巻: 913  ページ: 72-77  発行年: 2019年 
JST資料番号: D0208B  ISSN: 0168-9002  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: オランダ (NLD)  言語: 英語 (EN)
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本論文では,薄い空乏層シリコンアバランシェフォトダイオード(Si-APD)を用いた高速エネルギー測定技術の実証について報告した。高速度条件での同時エネルギーとタイミング測定を実現するために,専用の振幅-時間変換器を開発した。このシステムのエネルギー応答を,6から33keVの範囲の入射エネルギーをもつ単色X線ビームを用いて系統的に研究した。得られたエネルギースペクトルは明瞭なピークとテール分布を含む。入射光子エネルギーが増加すると,ピーク分率は単調に減少した。この現象はシリコン中のエネルギー堆積の分布を考慮することにより説明でき,モンテカルロシミュレーションを用いて調べた。Copyright 2018 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】
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, 【Automatic Indexing@JST】
分類 (2件):
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素粒子・核物理実験技術一般  ,  宇宙線・天体物理観測技術 
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