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J-GLOBAL ID：201802279843592645   整理番号：18A0190778

LEDドライバの信頼性と寿命予測【Powered by NICT】

Reliability and lifetime prediction of LED drivers

著者 (1件)： Zhang Hui (State University of New York at Oswego, Electrical and Computer Engineering Department)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017  号： SSLChina: IFWS  ページ： 24-27  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： LEDドライバは,LED照明器具の重要な要素,電力と制御LEDは必要とされる光を供給するものである。その寿命はシステム全体の耐用年数に大きく影響するようにそれらは,LED照明器具内の最も弱いリンク。,LEDドライバの信頼性と寿命に関する研究は大きな理論的重要性と実用的な価値がある。本論文では,LEDドライバの信頼性と寿命を推定するための二つの方法を示した。一つの方法は,信頼性試験を導電性を必要とせずに,MIL HDBK217Fに基づく改良型部分応力解析法であり,もう一つは加速寿命試験を用いた実験方法である。も同じ準フライバックLEDドライバの寿命を予測する方法の両方を適用した。温度依存寿命結果を実証し,二組の結果の間に良好な一致が観察された。これは本研究で提示した改善された部分応力解析法がLEDドライバの信頼性と寿命を予測するための効果的な方法であることを示した。また,典型的な高価で時間を消費する信頼性試験を必要としないので,この方法であるLED照明器具の設計と開発の経過における信頼性と寿命研究に特に適している。Copyright 2018 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： *信頼性 ,  温度依存性 ,  *寿命予測 ,  導電性 ,  電力 ,  耐用年数 ,  応力解析 ,  信頼性試験
準シソーラス用語： フライバックコンバータ ,  実験方法 ,  加速劣化試験 ,  LEDランプ ,  *LED駆動装置 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G)

タイトルに関連する用語 (2件)： LEDドライバ ,  寿命予測