文献

J-GLOBAL ID：201802281034793367   整理番号：18A2003749

経静脈鉛除去を受けた心血管植込み型電子デバイス感染患者における脳卒中【JST・京大機械翻訳】

Stroke in patients with cardiovascular implantable electronic device infection undergoing transvenous lead removal

著者 (23件)： Lee Justin Z. (Mayo Clinic Arizona, Phoenix, Arizona) ,  Agasthi Pradyumna (Mayo Clinic Arizona, Phoenix, Arizona) ,  Pasha Ahmed K. (Mayo Clinic Health System, Mankato, Minnesota) ,  Tarin Claudia (Mayo Clinic Arizona, Phoenix, Arizona) ,  Tseng Andrew S. (Mayo Clinic Arizona, Phoenix, Arizona) ,  Diehl Nancy N. (Mayo Clinic Florida, Jacksonville, Florida) ,  Hodge David O. (Mayo Clinic Florida, Jacksonville, Florida) ,  DeSimone Christopher V. (Mayo Clinic Rochester, Rochester, Minnesota) ,  Killu Ammar M. (Mayo Clinic Rochester, Rochester, Minnesota) ,  Brady Peter A. (Mayo Clinic Rochester, Rochester, Minnesota) ,  Kancharla Krishna (University of Pittsburgh, Pittsburgh, Pennsylvania) ,  Kusumoto Fred M. (Mayo Clinic Florida, Jacksonville, Florida) ,  Srivathsan Komandoor (Mayo Clinic Arizona, Phoenix, Arizona) ,  Osborn Michael J. (Mayo Clinic Rochester, Rochester, Minnesota) ,  Espinosa Raul E. (Mayo Clinic Rochester, Rochester, Minnesota) ,  Rea Robert F. (Mayo Clinic Rochester, Rochester, Minnesota) ,  Madhavan Malini (Mayo Clinic Rochester, Rochester, Minnesota) ,  McLeod Christopher J. (Mayo Clinic Rochester, Rochester, Minnesota) ,  Shen Win-Kuang (Mayo Clinic Arizona, Phoenix, Arizona) ,  Cha Yong-Mei (Mayo Clinic Rochester, Rochester, Minnesota) ,  Friedman Paul A. (Mayo Clinic Rochester, Rochester, Minnesota) ,  Asirvatham Samuel J. (Mayo Clinic Rochester, Rochester, Minnesota) ,  Mulpuru Siva K. (Mayo Clinic Arizona, Phoenix, Arizona)
資料名： Heart Rhythm  (Heart Rhythm)
巻： 15  号： 11  ページ： 1593-1600  発行年： 2018年 
JST資料番号： W3164A  ISSN： 1547-5271  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 脳卒中は,心血管移植可能な電子装置(CIED)感染患者における壊滅的な合併症である可能性がある。逆説的敗血症性塞栓症は,経静脈的鉛除去(TLR)中の塞栓性脱落を介して,デバイスリードと開存孔ov孔(PFO)の存在下で発生する可能性がある。本研究の目的は,CIED感染に対するTLRを受けている患者における脳卒中とその関連因子を調べることであった。2000年1月1日から2017年7月30日までのCIED感染に対するTLRを受けているすべての患者の後向き分析を,Mayo Clinic(Rochester,Phoenix,およびJacksonville)の3つの3つの第3のすべてのセンターから行った。一次転帰は脳卒中であり,さらに術前および術後脳卒中に分類された。関連危険因子を分析した。合計774人の患者(平均年齢67.6±14.9歳)は,CIED感染のためにTLRを受けた。このコホートにおける脳卒中率は1.9%(95%信頼区間[CI]1.1%~3.2%)であった。術前および術後脳卒中率は,それぞれ0.9%(95%CI0.4%-1.9%)および1.0%(95%CI0.4%-2.0%)であった。PFOSは脳卒中患者の46.7%,脳卒中のない患者の12.9%で同定され,脳卒中と独立して関連していた(P=.0002)。これは,特に右-左シャント(オッズ比6.4;95%CI1.3-31.0;P=.022)を有する右側の植生を有する患者において特にそうであった。TLRを受けているCIED感染患者において,PFOの存在は,特に右から左へのシャントを伴う右側の植生により,脳卒中のリスクの増加と関連していた。この知見は,TLRの前のPFOスクリーニングが慎重な注意を必要とすることを示唆する。Copyright 2018 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 逆理 ,  スクリーニング ,  危険因子 ,  循環系 ,  塞栓症 ,  *患者 ,  *脳卒中 ,  電子装置 ,  信頼区間 ,  母集団 ,  *感染 ,  *静脈
準シソーラス用語： オッズ比 ,  転帰 ,  遡及的解析 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (5件)： 脳血管障害 ,  心内膜炎 ,  転帰 ,  卵円孔開存 ,  経静脈鉛抽出

分類 (2件)： 神経系の疾患  (GN03000O) ,  循環系の疾患  (GJ03000C)

タイトルに関連する用語 (8件)： 静脈 ,  鉛除去 ,  心血管 ,  植込み ,  電子デバイス ,  感染 ,  患者 ,  脳卒中