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J-GLOBAL ID:201802281378740737   整理番号:18A0972185

低温成長GaAsにおける成長後アニーリングによるUrbachバンド尾部とバンド間デフェージング時間の制御【JST・京大機械翻訳】

Control of the Urbach band tail and interband dephasing time with post-growth annealing in low-temperature-grown GaAs
著者 (5件):
資料名:
巻:号:ページ: 045121-045121-9  発行年: 2018年 
JST資料番号: U7121A  ISSN: 2158-3226  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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成長後のアニーリング温度の範囲に対する低温成長(LT-)GaAs上のフェムト秒四光波混合実験により,Urbachバンド尾部はAsクラスタへのAs関連点欠陥の変換により550°C以上で急激に減少し,バンド間デフェージング時間は550°C以下のアニーリング温度でAs点欠陥をもつ散乱により制限されることを示した。さらに,550°C以下のアニーリング温度に対して,励起子とUrbachバンド尾部に関連する偏光ソース項の複雑な相互作用を観測した。これらの実験により,LT-GaAsのキャリア動力学と超高速非線形光学特性を明らかにした。(翻訳著者抄録)【JST・京大機械翻訳】
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, 【Automatic Indexing@JST】
分類 (3件):
分類
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半導体薄膜  ,  13-15族化合物を含む半導体-半導体接合  ,  半導体の結晶成長 

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