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J-GLOBAL ID：201802281383590201   整理番号：18A0001684

走査型イオンコンダクタンス顕微鏡によるタンパク質薄膜表面の電荷評価

著者 (10件)： 今井俊輔 (東北大 大学院) ,  LI Fei (西安交通大 院) ,  YANG Peng (陝西ノーマル大 院) ,  井田大貴 (東北大 大学院) ,  熊谷明哉 (東北大 大学院) ,  高橋康史 (金沢大 大学院) ,  高橋康史 (JST-PRESTO) ,  伊野浩介 (東北大 大学院) ,  珠玖仁 (東北大 大学院) ,  末永智一 (東北大 大学院)
資料名： 化学とマイクロ・ナノシステム学会研究会講演要旨集
巻： 36th  ページ： 27  発行年： 2017年10月04日 
JST資料番号： L4117A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *走査型トンネル顕微鏡 ,...
準シソーラス用語： *走査型イオンコンダクタンス顕微鏡

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分類 (1件)： 蛋白質・ペプチド一般  (EB03010N)

タイトルに関連する用語 (5件)： 走査型イオンコンダクタンス顕微鏡 ,  タンパク質 ,  薄膜 ,  電荷 ,  評価