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J-GLOBAL ID:201802281875027246   整理番号:18A1212878

発光材料の先進的キャラクタリゼーションのための表面敏感技術【JST・京大機械翻訳】

Surface Sensitive Techniques for Advanced Characterization of Luminescent Materials
著者 (1件):
資料名:
巻: 10  号:ページ: 906  発行年: 2017年 
JST資料番号: U7237A  ISSN: 1996-1944  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 文献レビュー  発行国: スイス (CHE)  言語: 英語 (EN)
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異なる蛍光体材料の特性化のためのAuger電子分光法(AES),X線光電子分光法(XPS),飛行時間走査イオン質量分析(TOF-SIMS)および高分解能透過型電子顕微鏡(HRTEM)のような表面敏感特性化技術の重要な役割を,以前得られた結果から選択例を与えることによりこの短いレビューで議論した。AESを用いて,電子衝撃中の表面反応を監視し,また,材料表面の元素組成を決定した。一方,XPSとTOF-SIMSを用いて,ドーパントの表面化学組成と原子価状態を決定した。蛍光体マトリックス中の欠陥の存在を決定するためのXPSの役割も異なる例で示した。ナノ粒子特性化のためのエネルギー分散分光法(EDS)と組み合わせたHRTEMの役割も指摘した。Copyright 2018 The Author(s) All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】
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物理分析一般 
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